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美國Royce 萬用推拉力測試儀及芯片拾取放置系統(tǒng),,產(chǎn)品主要用于元器件,、半導(dǎo)體或電路板組裝業(yè)等。
,。Royce 650 萬用推拉力性能測試
,。Royce 620 多用途拉力測試儀
。Royce 610 專用引線拉力測試儀
,。CCD 顯微鏡
,。AP+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
。MP300 全自動(dòng)芯片拾取系統(tǒng)
,。DE35-ST 半自動(dòng)芯片拾取系統(tǒng)
Royce 650萬用推拉力性能測試儀
Royce 650萬用機(jī)械性能測試儀主要用于測試半導(dǎo)體器件和PCB板上元器件各種機(jī)械性能測試,。 如引線拉力測試(Wire Bond Pull Testing),引線鍵合球推力測試(Wire Bond Ball Shear Testing),,BGA焊球推力測試(BGA Ball Shear Testing),,芯片焊接牢固度測試(Die Shear Testing)和高速焊球推力測試(High Speed Ball Shear Testing)等。
內(nèi)部計(jì)算機(jī):集成高性能的工業(yè)計(jì)算機(jī),,具備DVD-CD RW刻錄光驅(qū),、USB接口、網(wǎng)口。
伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的樣品平臺(tái):移動(dòng)范圍305mm x 155mm,,
X,,Y軸的分辨率:1微米
Z軸分辨率:0.1微米
系統(tǒng)精度:+/- 0.1%
測試線弧高度:具備
測試力曲線圖:具備
國際標(biāo)準(zhǔn):符合美軍標(biāo)883,美軍標(biāo)750,,ASTM F1269,,JESD22-B117, JESD22- B116和CE認(rèn)證,。具備ROHS無鉛認(rèn)證,。
Trinocular Microscope
Royce**推出的CCD顯微鏡,為600系列提供了更好的用戶體驗(yàn)!
· 高分辨率攝像機(jī)
· 自動(dòng)實(shí)時(shí)視頻捕捉
· 內(nèi)部集成Bond測試管理
· 強(qiáng)大的測試能力和可追溯性
· 可遠(yuǎn)程觀看測試視頻
· 600系列全兼容
芯片拾取及放置系統(tǒng) (Die Pick & Place Systems)
NEW !! AP+全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
適用芯片尺寸: 托盤放置: 0.2 mm2 - >25 mm2
載帶放置: 0.5 mm2 - ** 17 mm2
輸入:采用載帶框或蘭膜環(huán),,晶圓直徑**至 ?300 毫米
輸出: 載帶(寬度8 至 24 毫米,,熱封或壓封),Waffle packs 及Gel-Paks (2"- 4"),,JEDEC盤,,載帶框,,蘭膜環(huán)或特別定制
放置精度:± 12.5 微米(重復(fù)精度)
拾取原理:表面或頂部邊緣真空拾取(采用:Rubber,, Vespel,Tungsten carbide,, elastomer) 可選非表面接觸的Vespel edge grip
產(chǎn)能: 根據(jù)不同產(chǎn)品,,*短1.3 秒/循環(huán)
全自動(dòng)型 MP300 芯片拾取系統(tǒng)
適用于2-12英寸晶圓
• *小200微米芯片拾取
• *適合高、中產(chǎn)能,,產(chǎn)能可達(dá)2000UPH
• 可選配芯片轉(zhuǎn)向功能
• 可輸出至2”及4” Tray盤,,Wafers, Gel-Pak®,, Waffle Pack,, 或訂制
Tray
• 采用 Windows XP® 的 DieSort Manager 專業(yè)軟件
• 放置重復(fù)性 +/- 2 mil
• 拾取模式:常規(guī)真空表面接觸或非表面接觸(抓器)
• 10分鐘以內(nèi)快速更換
非表面接觸拾取功能
半自動(dòng)型 DE35-ST 芯片拾取系統(tǒng)
適用于6,8英寸晶圓
• *小200微米芯片拾取
• 可選配的非表面接觸拾取功能
• Waffle Pak,, Gel-Pak® 及 Film Frame 輸出
• 可選配背面,,側(cè)面檢測
• 可選配芯片轉(zhuǎn)向功能
• 根據(jù)不同產(chǎn)品,產(chǎn)量可達(dá)500-1200 UPH
• 10分鐘以內(nèi)快速更換
拾取大片 GaAs Die
暫無數(shù)據(jù),!