參考價(jià)格
面議型號
品牌
產(chǎn)地
德國樣本
暫無看了MDPpro晶圓片/晶錠少子壽命檢測儀的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
根據(jù)SEMI標(biāo)準(zhǔn)PV9-1110的非接觸式和無損成像(μPCD / MDP(QSS)),、光電導(dǎo)性,、電阻率和p/n檢查。
晶圓切割,,爐內(nèi)監(jiān)控,,材料優(yōu)化等。
日常壽命測量,,質(zhì)量控制和檢驗(yàn)
**產(chǎn)量:>240塊/天或>720片/天
測量速度:對于156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠,,<4分鐘
良品率提升:1mm切割標(biāo)準(zhǔn)為156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠
質(zhì)量控制:用于過程和材料的質(zhì)量監(jiān)控,如單晶硅或多晶硅
沾污檢測:起源于坩堝和生產(chǎn)設(shè)備的金屬(Fe)
可靠性:模塊化和堅(jiān)固耐用的工業(yè)儀器,,更高可靠性,,運(yùn)行時(shí)間> 99%
可重復(fù)性:> 99.5%電阻率:可做面掃描,不需經(jīng)常校準(zhǔn)
精密材料研發(fā)
鐵濃度測定
陷阱濃度測定
硼氧測定依賴于注入的測量等
特性
無接觸和無破壞的半導(dǎo)體檢測
特殊“underneath the surface”壽命測量技術(shù)
對不可見缺陷的可視化測試具有很高靈敏度
自動(dòng)設(shè)置硅錠切割標(biāo)準(zhǔn)
空間分辨p/n電導(dǎo)型變換檢測
暫無數(shù)據(jù),!