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什么是Curve Tracing?

"Curve tracing" 曲線追蹤是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法,。MultiTrace產(chǎn)品提供了廣泛的一系列解決方案，從使用powered curve tracing測(cè)試小型芯片的開(kāi)路/短路到使用Latch Up testing測(cè)試與更為復(fù)雜的多電路的芯片,。

RTI's MT Century Curve Tracer

RTI 開(kāi)發(fā)的MT Century Curve Tracer是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備,。MT Century Curve Tracer測(cè)試設(shè)備，*多到96個(gè)channel,，提供4種型號(hào)可供客戶選擇,，一定會(huì)找到一款符合客戶的預(yù)算及測(cè)試要求的系統(tǒng)。MT Century Curve Tracer 與RTI其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,，功率和軟件,。像其他RTI機(jī)型一樣，MT Century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口,。

RTI's MultiTrace Test System

原來(lái)的自動(dòng)曲線跟蹤器已經(jīng)提供超過(guò)10年,。這款系統(tǒng)可以**檢測(cè)達(dá)625引腳。 它有各種尺寸可供選擇,，以滿足*廣泛用戶的需求,。

MultiTrace 的應(yīng)用:

· 無(wú)源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):

檢測(cè)開(kāi)路，短路和漏電流

· 有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing):

檢測(cè)漏電流,，供電電流問(wèn)題,。 測(cè)量大量有用的參數(shù)

· 電源電流測(cè)量(Supply Current Measurements):

兩種方法來(lái)測(cè)量電流供應(yīng) 。

A 6-Bus 系統(tǒng)可同時(shí)對(duì)3組電源測(cè)量

· Latch Up 測(cè)試: (選配)

根據(jù)JESD 78 特征,， 找出 Latch-Up 敏感度 .

基礎(chǔ) Curve Tracing 的應(yīng)用:

· Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:

將輸入電壓接到引腳上,，測(cè)量輸出引腳電平變化.

· 對(duì)晶體管做曲線分析:

檢測(cè)任何型號(hào)的晶體管

· 顯微鏡:

使用顯微鏡定位原件的損傷部位.

· IDDQ 測(cè)試:

測(cè)量芯片每個(gè)狀態(tài)的電流輸入

· 功能性的引導(dǎo)能力:

Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing

根據(jù)所輸入信息改變輸入 Pin的狀態(tài)，然后進(jìn)行量測(cè),。測(cè)量輸出區(qū)域的功能測(cè)試狀態(tài),。

· Kelvin 4-Wire 阻力測(cè)試:

使用這種特制的應(yīng)用軟件來(lái)控制開(kāi)關(guān)矩陣和收集的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)精密的電阻測(cè)量,。

RTI's MegaTrace 自動(dòng)直流參數(shù)曲線追蹤

MegaTrace由648引腳開(kāi)始一直到2160的引腳,，因此其有足夠的能力來(lái)測(cè)試幾乎任何芯片。機(jī)器集成化較高,，機(jī)臺(tái)很容易移動(dòng),，也可以與其他儀器如顯微鏡，探針臺(tái),，以及其他遠(yuǎn)程測(cè)試機(jī)器一起使用,。

曲線追蹤功能

· Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測(cè)試)

· Powered 曲線追蹤

· Supply Current Characterization (Idd 測(cè)試)

· 6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔試

其它測(cè)量及測(cè)試功能

· Latch-Up 測(cè)試

· 功能性預(yù)處理

· 任何的±15V 一& ±1A直流測(cè)量