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SE 800 PV 激光橢偏儀
SENTECH設計了SE 800 PV,,用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和防反射涂層,。分析了單晶和多晶硅太陽電池的折射率指數,、吸收和膜厚。在配方模式下進行復雜的測量,,速度快,,操作容易。
紋路晶片
防反射涂層和鈍化層可以在單晶和多晶硅晶片上測量,。
疊層防反射涂層
可以分析SiO2/SiNx,、Al2O3/SiNx和SiNx1/SiNx2的涂層。
操作簡單
不管是專家還是初學者,,光譜橢偏儀SE 800 PV都提供了簡單的操作,。配方模式特別適合質量控制所需的常規(guī)應用。
光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具,??梢詼y量單層薄膜(SiNx、SiO2,、TiO2,、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2,、SiNx/Al2O3),。
SE 800 PV是基于步進掃描分析器測量模式。步進掃描分析器模式允許將測量參數匹配到粗糙的樣本表面,,同時所有光學部件都處于靜止狀態(tài),。SE 800 PV的光源、光學部件和檢測器進行了優(yōu)化,,以符合SENTECH的目標,,即快速、準確地測量PV應用的折射率指數,、吸收和膜厚,。
高測量靈敏度、去偏振校正和特殊的集光光學使SE 800 PV成為在粗糙樣品表面進行光伏應用的理想儀器,。
光譜橢偏儀SE 800 PV具有操作簡單的特點,、便于研發(fā)應用。SpectraRay/4,,SENTECH專有的橢偏儀軟件,,包括兩種操作模式,。配方模式允許在質量控制中輕松執(zhí)行常規(guī)應用程序。交互模式具有指導性的圖形用戶界面,,適合于研發(fā)應用和新配方的開發(fā),。
此外,SE 800 PV滿足SENresearch光譜橢偏儀系列的所有要求,。
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