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日本JEOL雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F
日本JEOL雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F

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日本

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

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日本JEOL雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F

隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化,,形貌觀察,、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求,,JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F,。 該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng),,在1kV低加速電壓下,,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與**能獲得300nA探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析,。

產(chǎn)品規(guī)格:

SEM
加速電壓0.1 ~ 30.0 kV
分辨率 (**WD時)1.2 nm (15 kV, GB模式)

1.6 nm (1 kV,, GB模式)

倍率x20 ~ 1,,000,000 (采用LDF模式)
探針電流1 pA ~ 300 nA
樣品臺計算機(jī)控制6軸測角樣品臺

X: 50 mm,, Y: 50mm,, Z: 1.5 ~ 40 mm, R: 360°,, T: -5 ~ 70°,, FZ: -3.0 ~ +3.0 mm

FIB
加速電壓1 ~ 30 kV
圖像分辨率4.0 nm (30kV)
倍率x50 ~ 1,000,000 (x50 ~ 90在加速電壓為15kV以下時可以)
探針電流1 pA ~ 90 nA,, 13 檔
加工形狀矩形,、線、點,、圓,、位圖

產(chǎn)品特點:

· 雙束加工觀察系統(tǒng) JIB-4700F能進(jìn)行高分辨觀察、高速分析,、高速加工的FIB/SEM 裝置,。

· 隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化,形貌觀察,、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求,。為了滿足這些需求,JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F,。 該設(shè)備的SEM鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡,、GB模式和in-lens檢測器系統(tǒng),,在1kV低加速電壓下,,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與**能獲得300nA探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析,。FIB鏡筒利用**探針電流為90nA的高電流密度的Ga離子束,對樣品進(jìn)行高速加工,。 利用FIB高速截面加工后的高分辨SEM觀察和使用EDS(能譜儀)及EBSD(晶體取向分析系統(tǒng))等各種分析裝置,,可以進(jìn)行高速分析。此外還標(biāo)配了三維分析功能,,能以固定的間隔自動進(jìn)行截面加工并同時獲取截面的SEM圖像,。

· 高分辨率SEM觀察

· 通過采用電磁場疊加的圓錐形物鏡、GB模式和in-lens檢測器,,在1kV低加速電壓下實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,。

· 高速分析

· 浸沒式肖特基電子槍與**光闌角控制鏡組合,大探針電流分析時也能保持高分辨率,。

· 高速加工

· FIB鏡筒利用高電流密度的Ga離子束,,對樣品進(jìn)行高速加工。

· 加強(qiáng)了檢測系統(tǒng)

· 利用新開發(fā)的同步檢測系統(tǒng)(包括in-lens檢測器),,*多能實時觀察4個檢測器的圖像,。

· 擴(kuò)展性

· 可支持EDS、EBSD,、冷凍傳輸系統(tǒng),、冷凍樣品臺、空氣隔離傳輸系統(tǒng)(Air-isolation transfer vessel)等豐富的選配附件。

· 三維觀察,、三維分析

· 高分辨率SEM和各種分析單元(選配項)組合,,能對圖像和分析數(shù)據(jù)進(jìn)行三維觀察。

· 樣品臺聯(lián)動功能

· 利用樣品提取系統(tǒng)(Sample Pick-up System,,選配項)和樣品臺聯(lián)動功能,,能簡單地提取TEM樣品。

· 圖像疊加(picture overlay )系統(tǒng)

· 通過和附帶光學(xué)顯微鏡的樣品提取系統(tǒng)組合,,將光鏡圖像疊加在FIB圖像上,,能容易地定出FIB的加工位置。

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