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日本JEOL原子級(jí)透射電子顯微鏡JEM-ARM200F
日本JEOL原子級(jí)透射電子顯微鏡JEM-ARM200F

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日本

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

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日本JEOL原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡JEM-ARM200F NEOARM

NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,,均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析,。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng),可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正,。新STEM成像技術(shù)(e-ABF法)可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像,。

產(chǎn)品規(guī)格:

分辨率*1

STEM HAADF 圖像: 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV),、160 pm (30 kV)

TEM 信息分辨率: 100 pm (200 kV),、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV)

電子槍

標(biāo)配冷場電子槍

球差校正器

STEM: NEO ASCOR HOAC*2,、TEM: CETCOR with DSS*3

校正器自動(dòng)合軸系統(tǒng)

日本電子NEO JEOL COSMO™ 自動(dòng)合軸系統(tǒng),、Ad-hock合軸(SIAM)

加速電壓

30 ~ 200 kV( 標(biāo)配30、80,、200 kV,;選配60、120 kV)

無磁場模式

標(biāo)配洛倫茲模式,、放大倍數(shù) ( ×50 ~ 80 k熒光屏為參考面)

樣品移動(dòng)系統(tǒng)

X,,Y,Z 軸高精度機(jī)械驅(qū)動(dòng),、標(biāo)配超高精度壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)

操作類型

RDS*4 操作模式*4

*1 裝配UHR(超高分辨率)極靴與STEM/TEM球差校正器

*2 HOAC(高階球差校正器)

*3 DSS(DeScan系統(tǒng))

*4 RDS(安裝室分隔式)

主要特點(diǎn):

◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)

“NEOARM”配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差(即6重像散,,目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的**障礙。),,ASCOR和Cold-FEG的**組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率,。

◇ 自動(dòng)像差校正軟件JEOL COSMO™(Corrector System Module)

JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM:Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix),校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比,,JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù),,并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此,,客戶在工作流程中可以簡便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析,。

◇ 新ABF(Annular Bright Field)檢測器系統(tǒng)

ABF檢測器作為高分辨觀察輕元素的有效手段已被廣泛使用?!癗EOARM”支持能增強(qiáng)輕元素襯度的新ABF成像技術(shù)(e-ABF:enhanced ABF),,實(shí)現(xiàn)了對(duì)含有輕元素樣品的原子級(jí)結(jié)構(gòu)的觀察。

◇ Perfect sight檢測器

STEM系統(tǒng)標(biāo)配的Perfect sight檢測器作為混合檢測器,,采用了由不同材料制成的閃爍器,。該檢測器具有**的寬電壓適應(yīng)性,不依賴于加速電壓始終都可以獲得高襯度的STEM圖像,,并可用于定量STEM的分析研究工作,。

◇ Viewing Camera系統(tǒng)

“NEOARM”標(biāo)配的Viewing Camera系統(tǒng)是以遠(yuǎn)程操控為前提而設(shè)計(jì)的利用雙相機(jī)觀察圖像的系統(tǒng)。此系統(tǒng)允許主機(jī)房和操作間分離,,因此能夠靈活地安排操作環(huán)境,。電鏡主機(jī)采用的純白色和JEOL銀色在室內(nèi)協(xié)調(diào)美觀,外觀設(shè)計(jì)精煉簡潔,。

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10分

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10分
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