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臺式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測,。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS,，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗,、電導(dǎo)率,、泄漏電流、濕度和溫度
易PID和抗PID的太陽能電池 重現(xiàn)性
暫無數(shù)據(jù),！
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