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弗萊貝格的MDPpro(晶圓片/晶錠壽命檢測儀)系列主要用于測量少子壽命,、光電導率,、電阻率和樣品平整度及p/n檢查等,,其非接觸式檢測和無損成像(μPCD /MDP(QSS))的設計完全符合SEMI標準PV9-1110,。這也使得該儀器在晶圓切割,、爐內(nèi)監(jiān)控和材料優(yōu)化等領域被廣泛應用,??梢哉f,,MDPpro是晶錠生產(chǎn)商以及晶體爐技術生產(chǎn)商的標準儀器,。
u 無接觸和無破壞的半導體檢測,;
u 特殊“underneath the surface”壽命測量技術;
u 對不可見缺陷的可視化測試具有很高靈敏度,;
u 自動設置硅錠切割標準,;
u 空間分辨p/n電導型變換檢測,;
u 多項數(shù)據(jù)同時自動檢測掃描,,5幅測量圖形同時繪制;
u 堅固耐用的設計和易于設置的性能,。安裝,,僅需要電源。
高產(chǎn)量:>240塊/天或>720片/天
測量速度:對于156x156x400mm標準晶錠,,<4分鐘
良品率提升:1mm切割標準為156x156x400mm標準晶錠
質(zhì)量控制:用于過程和材料的質(zhì)量監(jiān)控,如單晶硅或多晶硅
沾污檢測:起源于坩堝和生產(chǎn)設備的金屬(Fe)
可靠性:模塊化和堅固耐用的工業(yè)儀器,,更高可靠性,運行時間> 99%
可重復性:> 99.5%
電阻率:可做面掃描,,不需經(jīng)常校準
a.鐵濃度測定
b.陷阱濃度測定
c.硼氧測定
d.依賴于注入的測量等
暫無數(shù)據(jù)!