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NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI三維形貌儀是非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像,、大的掃描范圍,，可定制的波長范范圍，使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌,。提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析、PSD分析,、體積,、角度計算、曲率計算,、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲,、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集、分析,、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計的計算包括峰值和谷值分析?；诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通,、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易,。多項式配置,、數(shù)據(jù)配置、掃描,、屏蔽和插值,。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路,、混合和固定繪圖,。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。
三維形貌儀主要應(yīng)用在金屬材料,、生物材料,、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,，臺階高度,，二維粗糙度（Ra，Rq,，Rmax...）,，三維粗糙度（Sa，Sq,，Smax）,，劃痕截面面積，劃痕體積,，磨損面積,，磨損體積，磨損深度,，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量,。擺脫了以往只能得到二維信息,，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀,。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
測量表面可以覆蓋90%以上材料表面,。設(shè)備傳感器精度高,，穩(wěn)定性好，材料應(yīng)用面廣,。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的,。垂直分辨率可達0.01 nm ( phase-shift mode) 可測跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,，包括透明,、金屬材料，半透明,、高漫反射,，低反射率、拋光,、粗糙材料(金屬,、玻璃、木頭、合成材料,、光學(xué)材料,、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚,、頭發(fā)、牙齒…),；
三維形貌儀
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進的目標
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù),。 欲了解**的配置和性能，請與我們聯(lián)系,。
垂直分辨率 0.1nm,，0.02nm
搭載多鏡頭 *多可同時搭載6枚物鏡
平臺范圍 150毫米x 150毫米（可選200毫米或更大）
物鏡倍數(shù) 0.5倍到100倍
Z軸聚焦范圍 0.1納米至10mm
手動旋轉(zhuǎn)平臺范圍 360度
高清圖像
2維、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像,。利用所提供的軟件,，通過設(shè)置一些選項、可以得到客戶需求的的曲線,、標繪,、視圖（例如直方圖及雷達圖等）
成像光源
長壽命強光LED，用戶可自選波長范圍
白光干涉儀對其光源承諾****的十年質(zhì)保,。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像,。）白光干涉光源承諾十年質(zhì)保。
三維形貌儀允許客戶改變可用波長掃描各種樣品,。
聯(lián)系方式：aep Technology
電話：+86-010-68187909
傳真：+86-010-68187909
手機：+86-何先生
公司網(wǎng)址：
暫無數(shù)據(jù),！
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