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NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI三維形貌儀是非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像,、大的掃描范圍,,可定制的波長(zhǎng)范范圍,使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌,。提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析、PSD分析,、體積,、角度計(jì)算,、曲率計(jì)算、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集,、分析、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通,、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置,、數(shù)據(jù)配置,、掃描、屏蔽和插值,。交互縮放,。X-Y和線段剖面。三維線路,、混合和固定繪圖,。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖。
三維形貌儀主要應(yīng)用在金屬材料,、生物材料,、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,,臺(tái)階高度,,二維粗糙度(Ra,Rq,,Rmax...),,三維粗糙度(Sa,Sq,,Smax),,劃痕截面面積,劃痕體積,,磨損面積,,磨損體積,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量,。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀,。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代,。
測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高,,穩(wěn)定性好,,材料應(yīng)用面廣。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的,。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科,、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,包括透明,、金屬材料,,半透明、高漫反射,,低反射率,、拋光、粗糙材料(金屬,、玻璃,、木頭、合成材料,、光學(xué)材料,、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚,、頭發(fā)、牙齒…),;
三維形貌儀
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù),。 欲了解**的配置和性能,請(qǐng)與我們聯(lián)系,。
垂直分辨率 0.1nm,,0.02nm
搭載多鏡頭 *多可同時(shí)搭載6枚物鏡
平臺(tái)范圍 150毫米x 150毫米(可選200毫米或更大)
物鏡倍數(shù) 0.5倍到100倍
Z軸聚焦范圍 0.1納米至10mm
手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度
高清圖像
2維、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像,。利用所提供的軟件,,通過設(shè)置一些選項(xiàng)、可以得到客戶需求的的曲線、標(biāo)繪,、視圖(例如直方圖及雷達(dá)圖等)
成像光源
長(zhǎng)壽命強(qiáng)光LED,,用戶可自選波長(zhǎng)范圍
白光干涉儀對(duì)其光源承諾****的十年質(zhì)保。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%(高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像,。)白光干涉光源承諾十年質(zhì)保,。
三維形貌儀允許客戶改變可用波長(zhǎng)掃描各種樣品。
聯(lián)系方式:aep Technology
電話:+86-010-68187909
傳真:+86-010-68187909
手機(jī):+86-何先生
公司網(wǎng)址:
暫無數(shù)據(jù),!