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NanoMap-1000WLI
非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來(lái)了高的分辨率,、 400萬(wàn)像素的圖像,、大的掃描范圍,可定制的波長(zhǎng)范范圍,,使用戶(hù)可以輕松靈活的的到任何表面形貌,。提供了二維分析、三維分析,、表面紋理分析,、粗糙度分析、波度分析,、PSD分析,、體積、角度計(jì)算,、曲率計(jì)算,、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ),、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集,、分析,、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,?;诟盗⑷~變換的空間過(guò)濾工具使得高通、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易,。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置,、掃描,、屏蔽和插值。交互縮放,。X-Y和線(xiàn)段剖面,。三維線(xiàn)路、混合和固定繪圖,。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖,。
三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料,、聚合物材料,、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,,臺(tái)階高度,二維粗糙度(Ra,,Rq,,Rmax...),三維粗糙度(Sa,,Sq,,Smax),劃痕截面面積,,劃痕體積,,磨損面積,磨損體積,,磨損深度,,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息,,或三維信息過(guò)于粗糙的現(xiàn)狀,。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。
測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面,。設(shè)備傳感器精度高,,穩(wěn)定性好,材料應(yīng)用面廣,。熱噪聲是同類(lèi)產(chǎn)品*低的,。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,,包括透明,、金屬材料,半透明,、高漫反射,,低反射率、拋光,、粗糙材料(金屬,、玻璃、木頭,、合成材料,、光學(xué)材料、塑料,、涂層、涂料,、漆,、紙,、皮膚、頭發(fā),、牙齒…),;
光學(xué)輪廓儀參數(shù)性能
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù)。 欲了解**的配置和性能,,請(qǐng)與我們聯(lián)系,。
垂直分辨率 0.01nm
搭載多鏡頭 *多可同時(shí)搭載6枚物鏡
平臺(tái)范圍 150毫米x 150毫米(可選200毫米或更大)
物鏡倍數(shù) 2.5倍到100倍
Z軸測(cè)量范圍 20微米至10mm
傾斜角度 + / - 4度
手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度
像素標(biāo)準(zhǔn) 1024X1024,可選的1920X1920
高清圖像 2維,、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像,。利用所提供的軟件,通過(guò)設(shè)置一些選項(xiàng),、可以得到客戶(hù)需求的的曲線(xiàn),、標(biāo)繪、視圖(例如直方圖及雷達(dá)圖等)
成像光源
長(zhǎng)壽命強(qiáng)光LED,,用戶(hù)可自選波長(zhǎng)范圍
白光干涉儀對(duì)其光源承諾****的十年質(zhì)保,。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%(高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像。)白光干涉光源承諾十年質(zhì)保,。
白光干涉儀也允許客戶(hù)改變可用波長(zhǎng)掃描各種樣品,。
聯(lián)系方式:aep Technology
電話(huà):+86-010-68187909
傳真:+86-010-68187909
手機(jī):+86-何先生
公司網(wǎng)址:
暫無(wú)數(shù)據(jù)!