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NanoMap-1000WLI 膜厚儀

儀器簡(jiǎn)介：

該膜厚儀提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析、PSD分析,、體積,、角度計(jì)算,、曲率計(jì)算,、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ),、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集,、分析,、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,?；诟盗⑷~變換的空間過(guò)濾工具使得高通、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易,。多項(xiàng)式配置,、數(shù)據(jù)配置、掃描,、屏蔽和插值,。交互縮放。X-Y和線段剖面,。三維線路,、混合和固定繪圖。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖,。

主要特點(diǎn)：

◆微觀二維（2D）和三維(3D)形貌輪廓獲取

◆多種測(cè)量功能

將采樣數(shù)據(jù)運(yùn)算后,，可獲得精確定量的面積（空隙率，缺陷密度,，磨損輪廓截面積等）,、體積（孔深，點(diǎn)蝕,，圖案化表面,，材料表面磨損體積以及球狀和環(huán)狀工件表面磨損體積等）、臺(tái)階高度,、線與面粗糙度,，透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數(shù)等測(cè)量數(shù)據(jù),。

NanoMap-1000WLI

NanoMap-1000WLI膜厚儀是非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來(lái)了高的分辨率,、 400萬(wàn)像素的圖像、大的掃描范圍,，可定制的波長(zhǎng)范范圍,，使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌。提供了二維分析,、三維分析,、表面紋理分析、粗糙度分析,、波度分析,、PSD分析、體積,、角度計(jì)算,、曲率計(jì)算、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出,、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集,、分析,、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析,?；诟盗⑷~變換的空間過(guò)濾工具使得高通、低通,、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易,。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置,、掃描,、屏蔽和插值。交互縮放,。X-Y和線段剖面,。三維線路、混合和固定繪圖,。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖,。

膜厚儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料,、聚合物材料,、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度,，二維粗糙度（Ra,，Rq，Rmax...）,，三維粗糙度（Sa,，Sq，Smax）,，劃痕截面面積,，劃痕體積，磨損面積,，磨損體積,，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量,。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過(guò)于粗糙的現(xiàn)狀,。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代,。

測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高,，穩(wěn)定性好,，材料應(yīng)用面廣,。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科,、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,，包括透明、金屬材料,，半透明,、高漫反射，低反射率,、拋光,、粗糙材料(金屬、玻璃,、木頭,、合成材料、光學(xué)材料,、塑料,、涂層、涂料,、漆,、紙、皮膚,、頭發(fā),、牙齒…)；

三維形貌儀

參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)

AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù),。 欲了解**的配置和性能,，請(qǐng)與我們聯(lián)系。

搭載多鏡頭 *多可同時(shí)搭載6枚物鏡

Z軸聚焦范圍 0.1納米至10mm

手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度

高清圖像

2維,、3維的直方圖等視圖

白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像,。利用所提供的軟件，通過(guò)設(shè)置一些選項(xiàng),、可以得到客戶需求的的曲線,、標(biāo)繪、視圖（例如直方圖及雷達(dá)圖等）

成像光源

長(zhǎng)壽命強(qiáng)光LED,，用戶可自選波長(zhǎng)范圍

白光干涉儀對(duì)其光源承諾****的十年質(zhì)保,。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像。）白光干涉光源承諾十年質(zhì)保,。

三維形貌儀允許客戶改變可用波長(zhǎng)掃描各種樣品,。

聯(lián)系方式：aep Technology

電話：+86-010-68187909

傳真：+86-010-68187909

手機(jī)：+86-何先生

公司網(wǎng)址：

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