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儀器簡介:
NanoMap-D雙模式掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款測量計量型設(shè)備,。既可以
用于科學(xué)研究,,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測。
1,、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,,波紋度,,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,,晶粒分析等
2,、二維圖像分析:距離,半徑,,斜坡,,格子圖, 輪廓線等
3,、表界面測量:透明表面形貌,,薄膜厚度,透明薄膜下的表面
4,、薄膜和厚膜的臺階高度測量
5,、劃痕形貌,摩擦磨損深度,、寬度和體積定量測量
6,、微電子表面分析和MEMS表征
主要特點:
包含接觸式和非接觸式兩種掃描方式
高精度
· **的縱向分辨率:0.1 nm ( 接觸式);2 nm(光學(xué)非接觸式)
· 對周圍環(huán)境和光源的強適應(yīng)性
· 沒有機械過濾
寬闊的垂直測量范圍
· 多種選擇光學(xué)頭及接觸式
· 縱向掃描范圍 300 to 3900 µm
· 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi)
試用于幾乎所有的表面
· 透明,,不透明,,反射光強等多種材料
· 垂直臺階,高寬深比,,隆起,,孔洞
· 脆性的材料,軟材料,,柔性材料表面
· 尖銳的,,堅硬的,磨損的表面
適應(yīng)性強
· 白光光源,,人體安全設(shè)計,,長壽命白光LED 免維護,??梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實驗室,甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境,。
· 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的**結(jié)合
· 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動掃描模式,,三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺掃描使用高級別光學(xué)參考平臺能使長程掃描范圍到150mm,。
· 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機可對樣品直接觀察
· 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器,,同時擁有寬闊測量動態(tài)范圍(**至500μm)及亞納米級垂直分辨率 (*?。?1nm )
· 軟件設(shè)置恒定微力接觸(0.1 to 100 [mg])
暫無數(shù)據(jù),!