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提供了二維分析,、三維分析、表面紋理分析,、粗糙度分析,、波度分析、PSD分析,、體積,、角度計算、曲率計算,、模擬一維分析,、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲,、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等,。綜合繪圖軟件可以采集、分析,、處理和可視化數(shù)據(jù),。表面統(tǒng)計的計算包括峰值和谷值分析?;诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通,、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易,。多項式配置,、數(shù)據(jù)配置、掃描,、屏蔽和插值,。交互縮放。X-Y和線段剖面,。三維線路,、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖,。
主要特點:
◆微觀二維(2D)和三維(3D)形貌輪廓獲取
◆多種測量功能
將采樣數(shù)據(jù)運算后,,可獲得精確定量的面積(空隙率,缺陷密度,磨損輪廓截面積等),、體積(孔深,,點蝕,圖案化表面,,材料表面磨損體積以及球狀和環(huán)狀工件表面磨損體積等),、臺階高度、線與面粗糙度,,透明膜厚,、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數(shù)等測量數(shù)據(jù)。
NanoMap 光學輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內(nèi)提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能,,縱向分辨率可達0.01nm,。具有**的自動化水平,友好的用戶界面,,以及業(yè)內(nèi)**的SPIP分析軟件系統(tǒng),。眾多先進技術的集成、經(jīng)過長期實用驗證的測量技術核心以及適合于各種專業(yè)應用需要的軟件功能,,使 NanoMap 成為世界上***的光學干涉測量設備,,可滿足MEMS、金屬研究,、材料科學,、半導體、醫(yī)用器械等眾多領域科研和生產(chǎn)工作中對高精度自動化表面測量的需要,。
特點:
能夠同時測量形貌和粗糙度
能夠測量小半徑和小角度
標準真實的顏色信息
提供360°的形狀和粗糙度測量
檢測具有不同表面表征的表面
測量性能:
表面形貌測量
粗糙度測量
表面波紋度,、輪廓度測量
體積測量與分析
二維圖像-截面曲線測量
部分技術參數(shù):
垂直分辨率:0.1nm
水平光學分辨率:3300nm
**掃描高度:mm
**掃描面積:mm2
應用
汽車工業(yè)
工具和刀具
造紙與印刷
刑事偵察
摩擦與腐蝕
醫(yī)療器械
微電子工業(yè)
暫無數(shù)據(jù)!