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Scanning Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng),，可以和任何主流的的AFM進行聯(lián)用,。可以同時獲得形貌 & 納米尺度的熱導率以及溫度分布,，非常適合應(yīng)用在納米線/碳纖維/聚合物復合材料等領(lǐng)域

模塊性能：

可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學性能測試

1） 溫度,；

2） 溫度梯度變化曲線；

3） 定性熱導率,；

4） 相變溫度,；

5） 定性熱容量；

模塊優(yōu)勢：

1）高性價比,，能實現(xiàn)熱學掃描及熱學性質(zhì)測試的功能,，價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半；

2）精細測量,，能達到20nm區(qū)域測溫,；

3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形,；

模塊掃描機制：

目前國內(nèi)的國家納米科學中心,，中山大學，美國希捷硬盤公司在華的工廠均采購了這個模塊,。

以下是一些典型的SThM熱導率測試以及溫度分布的測試案例：

1）左半部分納米線的形貌圖以及溫度分布的對應(yīng),，右半部分為碳膜/Bi2Te3（熱電材料）的形貌圖以及熱導率圖對應(yīng)。

2）碳纖維與環(huán)氧樹脂復合材料形貌與熱導率對應(yīng)

3）聚合物纖維PCL-Coll_形貌與溫度分布對應(yīng)