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KLA NanoFlip原位納米壓痕力學(xué)測(cè)試模塊
NanoFlip納米壓痕儀可以提供您的材料研究實(shí)驗(yàn)室?guī)?lái)無(wú)限的便捷,。高性能多功能性是NanoFlip設(shè)計(jì)的標(biāo)志,,當(dāng)需要進(jìn)行成像集成,需要進(jìn)行頻繁的轉(zhuǎn)換和廣泛的樣本控制時(shí),,無(wú)論是環(huán)境測(cè)量還是原位測(cè)試,,無(wú)論有無(wú)真空,都能提供同樣出色的結(jié)果,。
Fib2Test技術(shù)允許用戶將樣品傾斜90度,,以便在雙光束SEM內(nèi)從FIB無(wú)縫過(guò)渡到壓痕測(cè)試,而無(wú)需移除樣品,。
設(shè)計(jì)為完全真空兼容,,并且具有獨(dú)特的樣品觸發(fā)功能,NanoFlip非常適用于現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,,如SEM,,FIB和真空室,或者當(dāng)您的實(shí)驗(yàn)帶您遷移時(shí),,可以在任何情況下工作可以想象的成像系統(tǒng),,如AFM,光學(xué)顯微鏡和光學(xué)Pro測(cè)量?jī)x,,為您提供幾乎無(wú)限的成像選項(xiàng),。
電磁執(zhí)行器用于KLA生產(chǎn)的所有系統(tǒng),包括NanoFlip,。這些執(zhí)行器是堅(jiān)固的線性裝置,,固有地解耦力和位移。它們的**力為50 mN,,分辨率為3 nN,,超低噪聲電流小于200 nN。
NanoFlip的時(shí)間常數(shù)為20微秒,,是**同時(shí)符合規(guī)格的商用納米壓痕儀,,**壓痕行程為50μm,噪聲<0.1nm,,數(shù)字分辨率為0.004 nm,,漂移率為< 0.05nm/s,。
為了確保業(yè)內(nèi)*廣泛,*可靠的數(shù)據(jù),,NanoFlip能夠?qū)崿F(xiàn)0.1 Hz至1 kHz的動(dòng)態(tài)激勵(lì)頻率,。
樣品臺(tái)移動(dòng),Z軸為25 mm,,X為20 mm,,Y軸為20 mm,分辨率為nm,,可在大面積上精確定位樣品,。
載荷框架剛度> 7 e5N/m
獨(dú)特的尖端校準(zhǔn)系統(tǒng)集成到軟件中,可實(shí)現(xiàn)快速,,準(zhǔn)確和自動(dòng)的尖端校準(zhǔn),。
可用的方法包,包含聚合物,,薄膜和生物材料的提示,,方法和標(biāo)準(zhǔn)
可用刮擦選項(xiàng),**正常載荷為50 mN,,**刮擦距離為2.5 mm,,**刮擦速度為500μm/ s。
可選的NanoBlitz地形和層析成像軟件,,用于材料的3D和4D映射,。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!