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KLA高溫原位納米壓痕儀I nSEM HT
KLA高溫原位納米壓痕儀I nSEM HT

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美國

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上海納騰儀器有限公司

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一、高溫原位納米壓痕儀簡介

InSEM HT產(chǎn)品可以在真空環(huán)境下對小體積材料進行各種高溫原位力學(xué)測試(室溫~800℃),,可以實時觀察材料在高溫下的形貌變化,,進而獲取更多關(guān)于材料在高溫下的機械性能。InSEM HT(高溫)通過在真空環(huán)境中單獨加熱尖端和樣品來測量高溫下的硬度,、模量和硬度,。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束(FIB)或獨立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實驗,。科學(xué)出版物表明,,InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗數(shù)據(jù)吻合,。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。

二,、 功能

  • 主要功能

    The CSM technique involves oscillating the probe during indentation to measure properties as a function of depth,, force,time,, or frequency. The option comes with a constant strain rate experiment that measures hardness and modulus as a functionof depth or load,, which is the most common test method used across academia and industry. CSM is also used for other advancedoptions, including the ProbeDMA™ method for storage and loss modulus measurements and AccuFilm™ substrate-independent measurements.The CSM is integrated into the InQuest controller and InView software to deliver unparalleled ease of use and data quality

  • 連續(xù)剛度測量(CSM)

CSM技術(shù)在壓痕過程中測量深度、力,、時間或頻率變化的力學(xué)性能,。該方案采用恒定應(yīng)變速率試驗,測量硬度和模量作為深度或載荷的函數(shù),,是學(xué)術(shù)界和工業(yè)界*常用的試驗方法,。CSM還用于其他高級測試,包括存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和AccuFilm™基底獨立測量,。

NanoBlitz3D

NanoBlitz 3D利用Inforce 50加載器采用玻氏壓頭測量高E(>3Gpa)材料的三維測量圖,。NanoBlitz壓痕小于1個點/ s,*多10萬個壓痕(300x300陣列),,并提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量,、硬度和剛度,大量的測試提高了統(tǒng)計的準(zhǔn)確性,。NanoBlitz 3D還提供可視化軟件和數(shù)據(jù)處理功能,。

AccuFilm™薄膜方法包

AccuFilm™薄膜方法包是一種基于Hay-Crawford模型的全新測試方法,使用連續(xù)剛度測量(CSM)測量基底材料的獨立特性,。AccuFilm™修正了基底對軟基板上硬薄膜以及硬基底上軟薄膜測量的影響,。

ProbeDMA™聚合物方法包

聚合物包可以測量聚合物的模量對頻率的函數(shù)。該測試包括平?jīng)_頭,、粘彈性參考材料和評價粘彈性性能的試驗方法,。這種測量技術(shù)是表征納米聚合物和聚合物薄膜的關(guān)鍵技術(shù),而傳統(tǒng)的DMA測試儀器無法很好地測試這些薄膜,。

劃痕磨損試驗功能

劃痕試驗在以規(guī)定速度穿過樣品表面時,,向壓頭施加恒定或傾斜載荷。劃痕試驗可以表征許多材料系統(tǒng),,如薄膜,、易碎陶瓷和聚合物。

Gemini 2D多軸傳感器

Gemini 2D多軸技術(shù)將相同的標(biāo)準(zhǔn)壓痕功能帶到第二個橫軸上,,同時沿兩個方向軸運行,。該**技術(shù)有助于深入了解材料特性和失效機制,可以測量泊松比,、摩擦系數(shù),、劃痕、磨損,、剪切等參數(shù),。

  • 技術(shù)特點

    KLA InSEM HT產(chǎn)品:先進的激發(fā)器的結(jié)構(gòu)設(shè)計,完全實現(xiàn)載荷和位移的分別控制和探測,,**實現(xiàn)納米壓痕檢測,,包括動態(tài)力學(xué)測試,、軟材料測試、及薄膜測試等等,。

    符合ISO14577的國際標(biāo)準(zhǔn)的壓痕測試

    InSEM HT動態(tài)測試附件是由連續(xù)剛度**技術(shù)的發(fā)明人研發(fā)的:動態(tài)力 學(xué)測試原理為在準(zhǔn)靜態(tài)加載過程中,,施加在壓頭上一個正玄波,從而表征出隨著壓痕深度,、載 荷,、時間或者頻率的變化材料力學(xué)性能的變化。

    NanoBlitz3D技術(shù),,提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量,、硬度和剛度,大量的測試提高了統(tǒng)計的準(zhǔn)確性,,自動生成楊氏模量,、硬度和剛度Mapping圖,是研究非均相材料研究的重要方法,。

  • 技術(shù)能力

InForce50載荷激發(fā)器

InForce1000載荷激發(fā)器

高精度的納米馬達臺

**加載載荷:

50mN

**加載載荷:

1000mN

X 向**行程:20 mm

縱向載荷分辨率:

3nN

縱向載荷分辨率:

6nN

Y 向**行程:20 mm

壓頭**移動范圍:

50um

壓頭**移動范圍:

80um

Z 向**行程:25 mm

位移噪音背景:

<0.01nm

噪音背景:

<0.1nm

Encoder X-Y-Z sensor resolution: 4 nm

位移數(shù)字分辨率:

<0.002nm

位移數(shù)字分辨率:

<0.004nm

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

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