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KLA-Tencor先進(jìn)的探針式臺(tái)階儀,,可精確測量納米級(jí)至2毫米臺(tái)階高度,,并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度,、應(yīng)力,,集高測量精度、多功能性和經(jīng)濟(jì)性于一體,,是生產(chǎn)線及材料分析等應(yīng)用領(lǐng)域的理想選擇,。因其具有6.0A (1σ)或0.1%臺(tái)階高度重復(fù)性以及亞埃級(jí)的分辨率,是目前商業(yè)化儀器里(經(jīng)市場驗(yàn)證)特別高精度的臺(tái)階儀產(chǎn)品,。
KLA-Tencor AlphaStep輪廓儀配置自動(dòng)臺(tái),,采用了新型光學(xué)反射探測系統(tǒng)來測量高度,,同時(shí)應(yīng)用電磁力控制探針壓力,能有效的實(shí)現(xiàn)超微力和低慣量 ,。這些創(chuàng)新型使表面輪廓儀能夠無傷測量軟薄膜樣品,。
P-7探針式輪廓儀可靠的測量性能提供了行業(yè)先進(jìn)的測量重復(fù)性。自動(dòng)樣品臺(tái),,閉環(huán)自動(dòng)移動(dòng)范圍150mmx150mm,,是市場上**具有長掃描能力的探針式輪廓儀。UltraLite®傳感器包括動(dòng)力控制,、優(yōu)良的線性度和垂直分辨率,,使其成為表面測量系統(tǒng)中搶手的傳感器。
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