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Scanning Microwave Impedance Microscopy，簡稱為sMIM,，掃描微波阻抗顯微鏡,，讓您的AFM成為專業(yè)的電學(xué)顯微鏡！

50nm超高分辨率,，~100nm內(nèi)部電學(xué)探測,，導(dǎo)體、半導(dǎo)體,、絕緣體的廣泛適用度,，為您提供電導(dǎo)率、介電常數(shù),、摻雜濃度納米級高靈敏度電學(xué)表征成像的解決方案,。

Scan Wave™ 可應(yīng)用于多種領(lǐng)域材料的研究和發(fā)展：微電子材料，鐵電材料,，工業(yè)材料,，以及石墨烯、碳納米管,，2D半導(dǎo)體,、納米材料等新星材料等。

獨(dú)立掃描模塊,，包括微波信號發(fā)生器,、探針干涉模塊、自主**同軸屏蔽探針,、以及微波近場軟件,，可應(yīng)用于各種AFM平臺。

特殊MEMS結(jié)構(gòu)探針,，有效避免散雜磁場的干擾

·專業(yè)多功能自由切換電學(xué)顯微鏡測試功能體驗(yàn)

sMIM-C成像：介電常數(shù),、電容變化；

sMIM-R成像：電導(dǎo)率,、電阻率變化,；

dC/dV 振幅：載流子濃度；

dC/dV 相位：載流子類型+/- ,；

dR/dV 振幅：相關(guān)損失系數(shù),；

dR/dV 相位：相關(guān)損失系數(shù)

·高精度電學(xué)測試，50nm分辨率,；

·工業(yè)級高靈敏度,、低噪音，“Hard stuff”材料電學(xué)測試不再是難題；

·可實(shí)現(xiàn)表面下成像,、檢測（>100nm)

·不同材料同步測量：導(dǎo)體,、半導(dǎo)體、絕緣體,、電介質(zhì)都可以實(shí)現(xiàn),，不同的材料甚至分類都可以 在一次掃描中觀測。

·簡易操作：不需要樣品特別處理,，不需要將樣品放置在導(dǎo)電或電流中,，人性化軟件設(shè)計(jì)，操作簡單,。

·接觸和非接觸模式多種掃描模式：即使在做力曲線,，只要你想實(shí)現(xiàn)，就可以獲得電學(xué)數(shù)據(jù),；