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Scanning Microwave Impedance Microscopy,，簡稱為sMIM，掃描微波阻抗顯微鏡,，讓您的AFM成為專業(yè)的電學(xué)顯微鏡,！
50nm超高分辨率，~100nm內(nèi)部電學(xué)探測,，導(dǎo)體,、半導(dǎo)體、絕緣體的廣泛適用度,，為您提供電導(dǎo)率,、介電常數(shù)、摻雜濃度納米級高靈敏度電學(xué)表征成像的解決方案,。
Scan Wave™ 可應(yīng)用于多種領(lǐng)域材料的研究和發(fā)展：微電子材料，鐵電材料,，工業(yè)材料,，以及石墨烯、碳納米管,，2D半導(dǎo)體,、納米材料等新星材料等,。
獨立掃描模塊，包括微波信號發(fā)生器,、探針干涉模塊,、自主**同軸屏蔽探針、以及微波近場軟件,，可應(yīng)用于各種AFM平臺,。
特殊MEMS結(jié)構(gòu)探針，有效避免散雜磁場的干擾
·專業(yè)多功能自由切換電學(xué)顯微鏡測試功能體驗
sMIM-C成像：介電常數(shù),、電容變化,；
sMIM-R成像：電導(dǎo)率、電阻率變化,；
dC/dV 振幅：載流子濃度,；
dC/dV 相位：載流子類型+/- ；
dR/dV 振幅：相關(guān)損失系數(shù),；
dR/dV 相位：相關(guān)損失系數(shù)
·高精度電學(xué)測試,，50nm分辨率；
·工業(yè)級高靈敏度,、低噪音,，“Hard stuff”材料電學(xué)測試不再是難題；
·可實現(xiàn)表面下成像,、檢測（>100nm)
·不同材料同步測量：導(dǎo)體,、半導(dǎo)體、絕緣體,、電介質(zhì)都可以實現(xiàn),，不同的材料甚至分類都可以 在一次掃描中觀測。
·簡易操作：不需要樣品特別處理,，不需要將樣品放置在導(dǎo)電或電流中,，人性化軟件設(shè)計，操作簡單,。
·接觸和非接觸模式多種掃描模式：即使在做力曲線,，只要你想實現(xiàn)，就可以獲得電學(xué)數(shù)據(jù),；
暫無數(shù)據(jù),！
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