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用于晶體取向測(cè)量的 SDCOM 小型衍射儀
用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究,、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺(tái)式XRD設(shè)備,。
Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。
SDCOM的特點(diǎn)
超快速測(cè)量：樣品旋轉(zhuǎn)一次（即10秒內(nèi)）即可捕獲所有所需的晶體取向參數(shù)
多種樣品尺寸：可測(cè)量直徑從1mm到200mm的樣品
可對(duì)任何單晶材料進(jìn)行全自動(dòng)分析和取向測(cè)定
典型標(biāo)準(zhǔn)偏差 (Si 100)：傾角幅度＜0.01° ,，傾角方向＜0.03°
正常運(yùn)行時(shí)間：＞99%
Theta 掃描功能：用于復(fù)雜的研究和材料表征
轉(zhuǎn)移技術(shù)：實(shí)現(xiàn)一束切割光束中*多可處理6個(gè)定向好的晶體
可與SECS/GEM等MES集成
暫無(wú)數(shù)據(jù),！
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車(chē)的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代,，其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇,。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜,、分析時(shí)間長(zhǎng),、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過(guò)程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊(cè) 
在科研與產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新的過(guò)程中,，作為核心生產(chǎn)研發(fā)設(shè)備的精密儀器，其先進(jìn)性及性能穩(wěn)定性
時(shí)間：2025年4月18日-20日 展館：大連國(guó)際會(huì)議中心 &n
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號(hào)館地址：上海市?浦東博成路850號(hào)展位號(hào)：H1-A4262025年3月10日至12日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測(cè)量時(shí)，樣品中產(chǎn)生的氣泡會(huì)顯著影響測(cè)量結(jié)果,。本文將通過(guò)實(shí)際案例展示如何通過(guò)超聲脫氣與馬爾文帕納科專(zhuān)利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,，來(lái)保障預(yù)制
本文摘要納米氣泡的粒度表征,，受限于其顆粒濃度低,、粒徑分布寬等特點(diǎn)，若使用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測(cè)試,，信號(hào)弱,，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí),、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對(duì)硅晶片的微觀形貌有直接影響,，進(jìn)而會(huì)影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性；此外,，漿料的穩(wěn)定性也會(huì)影響晶片拋光過(guò)程,，所以磨料的顆粒表征非常重要，本文介紹了利用動(dòng)態(tài)光散射技
SDCOM小型衍射儀的工作原理介紹,？SDCOM小型衍射儀的使用方法,？SDCOM小型衍射儀多少錢(qián)一臺(tái)？SDCOM小型衍射儀使用的注意事項(xiàng)SDCOM小型衍射儀的說(shuō)明書(shū)有嗎,？SDCOM小型衍射儀的操作規(guī)程有嗎,？SDCOM小型衍射儀的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？SDCOM小型衍射儀有現(xiàn)貨嗎,？SDCOM小型衍射儀包安裝嗎,？
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