參考價(jià)格
面議型號
Morphologi 4品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
歐洲樣本
暫無誤差率：
N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A儀器原理：
圖像分析分散方式：
N/A測量時(shí)間：
N/A測量范圍：
0.5 μm - 1300 μm看了全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的用戶又看了
留言詢價(jià)
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
Morphologi 4 是一個(gè)全自動(dòng)靜態(tài)圖像分析系統(tǒng)，可測量干粉顆粒,，混懸液和濾膜上顆粒的粒徑和形貌,。它旨在滿足多學(xué)科研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的多樣化需求，是昂貴且耗時(shí)的手動(dòng)顯微鏡的理想替代工具,。由于完全自動(dòng)化運(yùn)行且數(shù)據(jù)分析簡單,，與手動(dòng)方法相比，節(jié)約大量的時(shí)間,。僅需簡單標(biāo)準(zhǔn)化操作程序 (SOP) 的驅(qū)動(dòng)操作,，即可執(zhí)行可靠的可重復(fù)測量。謹(jǐn)慎控制并審視所有關(guān)鍵因素,，從分散狀況,、樣品聚焦和光源一直到數(shù)據(jù)分析和報(bào)告，提供可靠的數(shù)據(jù)結(jié)果,。
顆粒粒度范圍廣泛,，從 0.5 微米到 1300 微米以上，可對各種樣品進(jìn)行粒度測量
20 多種形態(tài)參數(shù)提供了高度詳細(xì)的描述,，有助于您更深入地了解顆粒物
SOP 控制從樣品分散到數(shù)據(jù)分析的全過程,，提供簡單、自動(dòng)化的操作,，確?？煽康目芍貜?fù)測量
自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分析，可檢測低對比度顆粒
高級手動(dòng)顯微鏡模式以及顆?；乜垂δ芸蓪︻A(yù)期之外的顆粒進(jìn)行更仔細(xì)的檢查
高分辨率顯微鏡能夠確保生成高質(zhì)量顆粒圖像,，從而提供可靠的圖像分析數(shù)據(jù)
集成干粉分散裝置提供可重復(fù)的樣品分散，這對生成有意義的結(jié)果至關(guān)重要
專用樣品展示配件可實(shí)現(xiàn)各類樣品的檢測,，包括懸浮液和濾膜上的樣
高級數(shù)據(jù)探索工具,，可提供大量樣本知識
21 CFR Part 11 軟件選項(xiàng)確保了法規(guī)合規(guī)性
Morphologi 4 測量步驟分為四部分：
樣品制備
對單個(gè)顆粒和附聚物進(jìn)行空間分離對于生成有代表性的結(jié)果至關(guān)重要。 集成式干粉分散器使干粉樣品的制備過程變得簡單且可重現(xiàn),。 所施加的分散能量可受到控制,，從而可對一系列材料類型優(yōu)化測定流程。 無需爆炸性震動(dòng)顆粒即可實(shí)現(xiàn)分散,，從而既可避免易碎顆粒受損,，又能確保高團(tuán)聚度材料實(shí)現(xiàn)分散。 可利用能夠直接安裝到 Morphologi 4 自動(dòng)化樣品臺中的配件制備懸浮液樣品或過濾后的樣品,。
圖像捕捉
儀器通過掃描光學(xué)顯微鏡下的樣品捕捉單個(gè)顆粒的圖像,。 Morphologi 4 的光源可從下方或上方照射樣品,，同時(shí)可對亮度實(shí)現(xiàn)控制,。
圖像處理
利用自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分割分析或通過手動(dòng)控制的閾值,，對顆粒進(jìn)行檢測并計(jì)算每個(gè)顆粒的形態(tài)屬性范圍。
生成結(jié)果
通過對數(shù)以千計(jì)的顆粒進(jìn)行分析,，以統(tǒng)計(jì)學(xué)方式為每個(gè)參數(shù)構(gòu)建富有代表性的分布,。 軟件中的圖表與數(shù)據(jù)分類選項(xiàng)，通過直觀的界面,，確保直接從您的測量中選取相關(guān)數(shù)據(jù),。 每個(gè)顆粒單獨(dú)存儲的灰度圖像可為定量結(jié)果提供定性驗(yàn)證。
暫無數(shù)據(jù),！
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇,。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時(shí)間長,、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,，除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動(dòng),，我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動(dòng)：四場分別針對激光粒度儀、納米粒度儀,、X射線衍射儀,、X射線熒光光譜儀用
近日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單,，并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,，受限于其顆粒濃度低,、粒徑分布寬等特點(diǎn)，若使用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測試,，信號弱,，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí),、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響,，進(jìn)而會(huì)影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,；此外，漿料的穩(wěn)定性也會(huì)影響晶片拋光過程,，所以磨料的顆粒表征非常重要,，本文介紹了利用動(dòng)態(tài)光散射技
除了化學(xué)性之外，金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能,，包括粉末的整體特性和單個(gè)金屬顆粒的特性,。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動(dòng)性。堆積密度和流動(dòng)性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響,。本文將介紹顆粒粒
全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的工作原理介紹,？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的使用方法？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4多少錢一臺,？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4使用的注意事項(xiàng)全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的說明書有嗎,？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的操作規(guī)程有嗎？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎,？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4有現(xiàn)貨嗎,？全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4包安裝嗎？
手機(jī)版：
工商已核實(shí)
