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Zetium品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
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/儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
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X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進行元素分析,，包括固體,、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計,，其高品質(zhì)的設(shè)計和功能,，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。
Zetium 包含了 SumXcore 技術(shù),，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成,。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰Α⑺俣群腿蝿?wù)靈活性,。
Zetium 配備了我們**版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst）,，可幫助非專家用戶輕松地設(shè)置應(yīng)用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊,，例如無標分析,、地質(zhì)痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析,。
針對特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)專用版：水泥,、礦物,、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料,。另外提供可滿足各行業(yè)嚴苛要求的高配置版本：Zetium**版,。 Zetium 平臺的模塊化設(shè)計允許通過各種軟件包來實現(xiàn)以任務(wù)為導(dǎo)向的性能增強。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案,；從連接樣品制備裝置的簡單接口,，到將多個分析儀器集成到單一容器實驗室中的全自動項目。
連續(xù)開發(fā),、不斷改進的客戶體驗
將 SumXcore 技術(shù)（WDXRF與EDXRF 的集成）所帶來的符合科學(xué)原理的優(yōu)勢驅(qū)動型創(chuàng)新融合到 Zetium 平臺中,，帶來更高靈活性、高性能和多功能性,。
基本情報
我們的 SuperQ 軟件帶來了新的技術(shù)組合和分析功能,。 以 Virtual Analyst 為例,，它優(yōu)化了用戶在設(shè)置和操作系統(tǒng)方面的體驗,。
無論在何處，都能獲得信息透明且可靠的支持
從服務(wù)到專業(yè)知識,，從培訓(xùn)到實驗室分析,，可為用戶提供全方位支持。 通過遍布全球的資深工程師網(wǎng)絡(luò),，馬爾文帕納科隨時準備好幫助您滿足分析需求,。
60 年的經(jīng)驗和傳承
Zetium 是 WDXRF 光譜儀（包括 Axios、MagiX 和 PW2400）中的新一代產(chǎn)品,。 傳承下來的成熟技術(shù)經(jīng)過優(yōu)化和發(fā)展,，為 Zetium 平臺打下了堅實的基礎(chǔ)。
從 1 到 2.4,、3 或 4 kW 的功率升級可增強靈敏度
一系列 X 射線光管陽極材料（銠,、鉻、鉬和金）可確保發(fā)揮特定應(yīng)用性能
用于增強靈敏度和加大過渡金屬分析動態(tài)范圍的復(fù)合探測器
用于擴大的重元素動態(tài)范圍（線性高達 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進行高精度分析
Virtual Analyst 提供簡潔,、直觀的軟件
整套應(yīng)用程序設(shè)置模塊和軟件解決方案
使用無標 XRF 分析,，對未知材料進行分析，或者在沒有標準的情況下進行分析
多元素微小區(qū)域分析
可編程的面罩,，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
SumXcore 技術(shù) - 利用 ED core（能譜核）將測量時間縮短多達 50%
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度
Hi-Per 通道可實現(xiàn)對輕元素的同步測量
連續(xù)和直接進樣可大大縮短儀器的進樣時間
高容量進樣器臺（*多 209 位）可滿足高處理量應(yīng)用需求
進樣器條形碼閱讀器選項可實現(xiàn)快速,、無故障的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入
除塵設(shè)備可盡量減少污染,，并能夠大大提升儀器的正常運行時間
用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層
樣品類型識別（固體和液體）
條形碼閱讀器可實現(xiàn)無差錯的樣品數(shù)據(jù)錄入
節(jié)省空間的緊湊型設(shè)計
小體積空氣鎖設(shè)計 - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中，或?qū)σ后w分析實現(xiàn)低氦氣消耗
便于檢修的服務(wù)模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機時間
專用制冷機可從實驗室?guī)ё邿崃?- 避免實驗室空調(diào)基礎(chǔ)設(shè)施負荷過重
可節(jié)省成本的成套解決方案
馬爾文儀器 連續(xù)開發(fā),、不斷改進的客戶體驗
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代,，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜,、分析時間長,、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,，除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動，我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動：四場分別針對激光粒度儀,、納米粒度儀,、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀用
近日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單，并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,，受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點,，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進行測試，信號弱,，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差,。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實現(xiàn)實時、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響,，進而會影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,；此外，漿料的穩(wěn)定性也會影響晶片拋光過程,，所以磨料的顆粒表征非常重要,，本文介紹了利用動態(tài)光散射技
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