參考價(jià)格
面議型號(hào)
Aeris品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無(wú)誤差率:
N/A分辨率:
N/A重現(xiàn)性:
N/A儀器原理:
靜態(tài)光散射分散方式:
N/A測(cè)量時(shí)間:
3-5min測(cè)量范圍:
N/A看了臺(tái)式X射線衍射儀Aeris的用戶又看了
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Aeris X 射線臺(tái)式衍射儀將給您留下深刻印象,,數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度目前只有在大功率系統(tǒng)上才能實(shí)現(xiàn),。 這個(gè)小巧的儀器結(jié)合了簡(jiǎn)單的測(cè)量與一步樣品裝載裝置,以及一個(gè)直觀簡(jiǎn)潔的用戶界面,,通過(guò)其內(nèi)置觸摸屏和直觀軟件,,用戶可以無(wú)障礙地使用這款儀器,。您可以享受這個(gè)流暢的過(guò)程 – 從樣品裝載到結(jié)果輸出,只需一個(gè)按鈕操作,。 Aeris 專為低擁有成本而設(shè)計(jì),,可根據(jù)特定市場(chǎng)的需求提供 4 種版本:研究版、水泥版,、礦產(chǎn)版和金屬版,。 所有版本均支持自動(dòng)化選項(xiàng),以滿足您的處理量要求,。
馬爾文帕納科臺(tái)式X射線衍射儀 Aeris 有四個(gè)版本:
Aeris 研究版提供的快速,、可靠和準(zhǔn)確的材料分析解決方案。監(jiān)測(cè)新合成材料中的物相,,測(cè)定藥物中的多態(tài)性,。 還可使用 Aeris 向?qū)W生傳授粉末衍射基礎(chǔ)知識(shí)。無(wú)論您從事哪種項(xiàng)目,,從目標(biāo)樣品中快速獲取物相信息對(duì)于您的研究至關(guān)重要。 您只需使用 Aeries 收集 X 射線衍射數(shù)據(jù),,然后應(yīng)用 HighScore 軟件獲取各種結(jié)晶信息即可,。
Aeris 水泥版直接探測(cè)水泥及其中間產(chǎn)品的礦物成分。 此礦物信息允許您判斷物理屬性,,以便在使用替代燃料時(shí)更好地控制窯爐,。 此外,它還有助于保證(混合)水泥的質(zhì)量,。 Aeris 水泥版是一種易于使用且可自動(dòng)化的臺(tái)式 X 射線衍射儀,,適用于所有水泥工廠。Aeris 水泥版是您在水泥生產(chǎn)過(guò)程中的每個(gè)階段(從生料,、熟料,、(混合)水泥到終產(chǎn)品)的得力助手。
Aeris 礦產(chǎn)版使采礦行業(yè)中的每個(gè)人都能對(duì)礦石進(jìn)行各種分析,。XRD 為濕法冶金模型提供準(zhǔn)確的礦物監(jiān)測(cè)和輸入信息,,確保獲得處理?xiàng)l件。Aeris 礦產(chǎn)版是您在生產(chǎn)過(guò)程中的每個(gè)階段(從原材料到終產(chǎn)品)的得力助手,。
Aeris 金屬版用于快速,、可靠地分析鐵華、直接還原鐵和殘余奧氏體,。 Aeris 不僅為全自動(dòng)操作,,而且可以與工業(yè)生產(chǎn)控制輕松結(jié)合。 Aeris 金屬版是您在生產(chǎn)過(guò)程中的每個(gè)階段(從原材料到終產(chǎn)品)的得力助手 ,。
X 射線衍射 (XRD)
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),,鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,,化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜,、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
展期:2025年3月10日-12日展館:上海世博展覽館 H1 號(hào)館地址:上海市?浦東博成路850號(hào)展位號(hào):H1-A4262025年3月10日至12日,,馬爾文帕納科(Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來(lái)選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動(dòng),,我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動(dòng):四場(chǎng)分別針對(duì)激光粒度儀,、納米粒度儀、X射線衍射儀,、X射線熒光光譜儀用
近日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)宣布其最新推出的X射線熒光光儀(XRF)"Revontium 極光"正式接受訂單,,并成功在美國(guó)High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,受限于其顆粒濃度低,、粒徑分布寬等特點(diǎn),,若使用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行測(cè)試,信號(hào)弱,,數(shù)據(jù)質(zhì)量較差,。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤(NTA)技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對(duì)硅晶片的微觀形貌有直接影響,,進(jìn)而會(huì)影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,;此外,漿料的穩(wěn)定性也會(huì)影響晶片拋光過(guò)程,,所以磨料的顆粒表征非常重要,,本文介紹了利用動(dòng)態(tài)光散射技
除了化學(xué)性之外,金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能,,包括粉末的整體特性和單個(gè)金屬顆粒的特性,。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動(dòng)性。堆積密度和流動(dòng)性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響,。本文將介紹顆粒粒