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2830 ZT品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
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2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能,。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)而設(shè)計，該儀器可為多種晶片（厚達 300 mm）測定層結(jié)構(gòu),、厚度,、摻雜度和表面均勻性。
4 kW SST-mAX X 射線管配備了突破性的 ZETA 技術(shù),，可以消除 X 射線管老化效應(yīng),。 這種“全新射線管”性能可以在 X 射線管整個壽命期間得到保持，同時高靈敏度與 ZETA 技術(shù)相結(jié)合,，確保了在 X 射線管壽命期間可以一直提供快速的分析和簡短的測量時間,。 ZETA 技術(shù)顯著減少了對于漂移校正和重新校準的需求，從而提高了儀器的生產(chǎn)率和正常運行時間,。
傳統(tǒng) X 射線管會出現(xiàn)鎢燈絲揮發(fā),，從而導(dǎo)致光管鈹窗內(nèi)部出現(xiàn)沉淀物污染鈹窗。 使用此類 X 射線管的儀器需要定期進行漂移校正以補償下降的強度,，尤其是對于輕元素而言,。
2830 ZT 采用 SST-mAX 射線管解決了這一漂移問題，從而大大提升了正常運行時間并能夠隨著時間的推移維持儀器精度,。
2830 ZT 配置SuperQ 軟件,，該軟件包含了 FP Multi - 一個專門針對多層分析開發(fā)的專用軟件包。 該軟件的用戶界面確保即使是沒有經(jīng)驗的操作員也可以對多層進行全自動的基本參數(shù)分析。
該儀器的 SuperQ 軟件具有多種易于使用的模塊,，這些模塊能夠方便研究者和工程師進行靈活的操作,。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好。
FALMO-2G 可輕松集成到任意實驗室或晶片廠中：從簡單的人工托架裝載到全自動,。 完全靈活的設(shè)計讓晶片廠經(jīng)理能夠選擇 FOUP,、SMIF 或開放式裝入端口，配有一個或兩個裝入端口配置,。 各種配置的 FALMO-2G 均受到符合 GEM300 的軟件支持,。 FALMO-2G 的占地空間大大降低，而沒有損失靈活性,、功能,。
該儀器的 SuperQ 軟件具備多種易用使用的模塊，這些模塊能夠方便研究者和工程師進行靈活的操作,。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好,。
波長色散 X 射線熒光 (WDXRF)
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代,，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇,。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜,、分析時間長,、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,，除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動，我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動：四場分別針對激光粒度儀,、納米粒度儀,、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀用
近日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單，并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征，受限于其顆粒濃度低,、粒徑分布寬等特點,，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進行測試，信號弱，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差,。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實現(xiàn)實時,、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響，進而會影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,；此外,，漿料的穩(wěn)定性也會影響晶片拋光過程，所以磨料的顆粒表征非常重要,，本文介紹了利用動態(tài)光散射技
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