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面議型號
X'Pert3 MRD品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
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N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A儀器原理：
靜態(tài)光散射分散方式：
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3-5min測量范圍：
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X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert3 系列中得以延用,。 X'Pert3 平臺具有新型機載控制電子裝置，符合X 射線和運動安全規(guī)范,，且具有環(huán)保和可靠性能,，已準(zhǔn)備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括：
? 全新高分辨率測角儀,，它使用 Heidenhain 編碼器,，因而準(zhǔn)確性更高且定位反饋時間更短
?無需使用工具即可快速將光管位置從點焦斑更改為線焦斑
? 得益于氣動快門和光束衰減器，系統(tǒng)正常運行時間滿足過程控制要求
? CRISP*（包括無鉛光管塔）確保入射光路組件的壽命更長
? 第二代 PreFIX,，確保實現(xiàn)更準(zhǔn)確的光學(xué)器件定位
? 面向未來的單板計算機控制器,，確保更好的連接性和更出色的遠(yuǎn)程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現(xiàn)由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕,。該技術(shù)使儀器運行更可靠,，避免額外的維護(hù)工作。
PreFIX 技術(shù)
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),，鋰電正極材料也正在快速迭代,，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜,、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
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近日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單,，并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,，受限于其顆粒濃度低,、粒徑分布寬等特點，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測試,，信號弱,，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實現(xiàn)實時、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響,，進(jìn)而會影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,；此外，漿料的穩(wěn)定性也會影響晶片拋光過程,，所以磨料的顆粒表征非常重要,，本文介紹了利用動態(tài)光散射技
除了化學(xué)性之外，金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能,，包括粉末的整體特性和單個金屬顆粒的特性,。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動性。堆積密度和流動性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響,。本文將介紹顆粒粒
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