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應(yīng)用:
◆ 硅外延層的CV測試;
◆ 半導(dǎo)體器件及化合物半導(dǎo)體(GaAs/SiC)的CV/IV測試,。
技術(shù)參數(shù):
SSM公司的汞探針CV測試設(shè)備是半導(dǎo)體器件,、化合物半導(dǎo)體(GaAs/SiC)行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,行業(yè)占有率超過90%,。其多項(xiàng)**技術(shù)保證了測試的高精確性及重復(fù)性。
主要特點(diǎn):
◆ 高精度和準(zhǔn)確性的參數(shù)測試(Qeff,, Qot,, Fbd, Vbd,, K...),;
◆ 在半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體(GaAs/SiC)行業(yè)超過90%的市場占有率;
◆ 高重復(fù)性(<1%),;
◆ 非破壞性,;
◆ 雙重的filer保護(hù)系統(tǒng)確保Hg的使用安全。
暫無數(shù)據(jù),!