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手動(dòng)臺階儀 JS10B品牌
安徽澤攸產(chǎn)地
安徽樣本
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澤攸科技的JS10B臺階儀是一款高精度,、高分解能力的手動(dòng)臺階儀,以其一體花崗巖結(jié)構(gòu)提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量,。該設(shè)備配備彩色攝像頭,,能夠同時(shí)對樣品和針尖進(jìn)行成像,實(shí)現(xiàn)無畸變的觀察樣品區(qū),,方便用戶精確定位特征區(qū)域,。在探針掃描過程中,用戶可以實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域,,這大大提高了操作的便捷性和測量的準(zhǔn)確性,。
臺階儀可以對微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺階高度、表面形貌,、表面波紋和表面粗糙度等的測量,,在高校、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所,、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體,、高亮度LED、太陽能,、MEMS微機(jī)電,、觸摸屏、汽車,、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用,。
長期以來,這一領(lǐng)域被國外產(chǎn)品壟斷,。而澤攸科技自主研發(fā)的JS系列高精度臺階儀,,憑借突破性的關(guān)鍵技術(shù),,打破了國外壟斷,是半導(dǎo)體國產(chǎn)化進(jìn)程中不可或缺的一環(huán),。
特點(diǎn)
量測精確,、操作便捷、體積小巧,、超高性價(jià)比
應(yīng)用范圍
▲ 刻蝕,、沉積和薄膜等厚度測量
▲ 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量
▲ 各式薄膜等應(yīng)力測量
系統(tǒng)組成
▲ 臺階儀主機(jī)
▲ 電腦及顯示器
選配品
▲ 隔振臺
▲ 高度校準(zhǔn)標(biāo)樣
技術(shù)參數(shù)
軟件界面
掃描圖
18nm樣品
68um樣品
暫無數(shù)據(jù),!
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近日,,蘇州科技大學(xué)作為第一單位,,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日,澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位,,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna