看了SR-M反射式顯微膜厚儀的用戶又看了
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一、概述
SR-M 針對特定微小區(qū)域,,可提供微米級的聚焦光斑,,同時利用顯微物鏡定位測量點,從而獲取精準位置的厚度表征結(jié)果,。
■ 光斑大小可進行定制,,*小可達到10um;
■ 非接觸,、非破壞測量,;
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析,;
■ 配置靈活,、支持定制化
二、產(chǎn)品特點
■ 采用高強度鹵素光源,,光源穩(wěn)定性好,;
■ 采用光機電高度整合一體化設(shè)計,體積小,操作簡便,;
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理,,輕松解析單層薄膜到多層;
三,、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護膜,、有機薄膜、無機薄膜,、金屬膜,、涂層等薄膜測量。
暫無數(shù)據(jù),!