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產(chǎn)地
湖北樣本
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一,、概述
SR-M 針對(duì)特定微小區(qū)域,可提供微米級(jí)的聚焦光斑,,同時(shí)利用顯微物鏡定位測(cè)量點(diǎn),從而獲取精準(zhǔn)位置的厚度表征結(jié)果,。
■ 光斑大小可進(jìn)行定制,,*小可達(dá)到10um;
■ 非接觸,、非破壞測(cè)量,;
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析,;
■ 配置靈活、支持定制化
二,、產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 采用高強(qiáng)度鹵素光源,,光源穩(wěn)定性好;
■ 采用光機(jī)電高度整合一體化設(shè)計(jì),,體積小,,操作簡(jiǎn)便;
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理,,輕松解析單層薄膜到多層,;
三、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護(hù)膜,、有機(jī)薄膜,、無(wú)機(jī)薄膜、金屬膜,、涂層等薄膜測(cè)量,。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!