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一,、概述
SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀,,緊湊集成設(shè)計,,使用簡便,可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息,。
■ 超高性價比光學橢偏測量解決方案,;
■ 緊湊集成化設(shè)計,,**用戶操作體驗;
■ 一鍵快速測量分析,,人機交互設(shè)計,,使用便捷;
■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,,保證強大數(shù)據(jù)分析能力
二,、產(chǎn)品特點
■ 采用高性能進口復(fù)合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm),;
■ 高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制,、PCRSA配置,實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集,;
■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫,、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料,;
三,、參數(shù)規(guī)格
四、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析,。
暫無數(shù)據(jù),!