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一,、概述
SE-VE 是一款超高性價比,、快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計,,使用簡便,,可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。
■ 超高性價比光學(xué)橢偏測量解決方案,;
■ 緊湊集成化設(shè)計,,**用戶操作體驗;
■ 一鍵快速測量分析,,人機(jī)交互設(shè)計,,使用便捷;
■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,,保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源,,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm),;
■ 高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置,,實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集,;
■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,,涵蓋了目前絕大部分的光電材料,;
三、參數(shù)規(guī)格
四,、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析,。
暫無數(shù)據(jù)!