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ParkNX12
可提供多功能原子力顯微鏡平臺滿足納米級測量的需求
- 原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁,，熱和機(jī)器性能測量的能力,。
- 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM)。
- 倒置光學(xué)顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化,。
通過驗(yàn)證的NX10性能
通過倒置光學(xué)顯微鏡樣品平臺,，Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準(zhǔn)確性相結(jié)合。這使得使用者更容易的使用納米管技術(shù)去研究透明,，不透明,，或軟或硬的樣品。
電化學(xué)測試的**平臺
電池,，燃料電池,，傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究是個快速增長的領(lǐng)域，然后許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求,。Park NX12的人性化設(shè)計(jì),，為快速操作提供便利，從而達(dá)到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性,。這主要包括：
多功能易用電化學(xué)池
惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項(xiàng)
雙恒電位儀的兼容性
研究人員可利用NX12平臺實(shí)現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用：
掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)
電化學(xué)原子力顯微鏡（EC-AFM）和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡( EC-STM)
多用戶設(shè)備
Park NX12完全重新構(gòu)建,，以適應(yīng)多用戶設(shè)備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性,，難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求,，很難合理控制設(shè)備成本。然而,，Park NX12旨在能夠容納標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境原子力顯微鏡成像,，液體掃描探針顯微鏡，光學(xué)和納米光學(xué)成像,，使其成為*靈活的原子力顯微鏡之一,。
多功能應(yīng)用
Park NX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint ™和納米力學(xué),，倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品,，離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像，以及改善透明樣品光學(xué)性能的可視性,。
綜合性的力譜方法
Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力學(xué)表征的完整解決方案,，使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇,。
模塊化
NX12模塊化設(shè)計(jì)不僅安裝簡單且兼容性強(qiáng)，可以滿足研究人員的各種實(shí)驗(yàn)需求,。
Park NX12可用于任何一個項(xiàng)目
NX系列的眾多掃描模式和模塊化設(shè)計(jì)使它可輕松地適應(yīng)任何一個掃描探針顯微鏡的需求,。
- 標(biāo)準(zhǔn)成像
真正的非接觸模式AFM
接觸模式AFM
側(cè)向力顯微鏡（LFM)
相位成像
輕敲式AAFM
-電性能
導(dǎo)電AFM
I-V譜線
掃描開爾文探針顯微鏡（SKPM/KPM)
高電壓SKPM
掃描電容顯微鏡（SCM)
掃描電阻顯微鏡（SSRM)
掃描隧道顯微鏡 （STM)
掃描隧道光譜 （STS)
時間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
- 磁性能
磁力顯微鏡 （MFM)
可調(diào)外加磁場MFM
-化學(xué)性能
掃描電化學(xué)池顯微鏡（SECCM)
掃描電化學(xué)顯微鏡 （SECM)
電化學(xué)顯微鏡(EC-STM和EC-AFM)
功能化探針的化學(xué)力顯微鏡
-熱性能
掃描熱感顯微鏡(SThM)
-光學(xué)性能
探針增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS)
時間分辨的光電流測繪 （Tr-PCM)
-介電/壓電性能
靜電力顯微鏡 （EFM)
動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡（DC-EFM)
壓電力顯微鏡 （PFM)
高電壓PFM
-機(jī)械性能
Pinpoint納米力學(xué)映射
力調(diào)制顯微鏡 （FMM)
納米壓痕
納米刻蝕
高電壓納米刻蝕
納米操縱
壓電力顯微鏡 （PFM)
-力測量
力－距離（F-D)光譜
力－體積成像
熱噪聲法標(biāo)定彈性系數(shù)
高樣品 1.5 μm臺階高度
掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
平樣品藍(lán)寶石晶圓的原子臺階 0.3nm臺階高度,，掃描模式：非接觸模式,，Z位置傳感器形貌圖
硬樣品鎢膜
掃描模式：非接觸模式，Z位置傳感器形貌圖
4. 軟樣品膠原原纖維
掃描模式：非接觸模式,，Z位置傳感器形貌圖
選項(xiàng)
范圍廣泛的環(huán)境控制選項(xiàng)包括了多功能電化學(xué)池,，控溫臺和濕度控制的手套箱.
- 電化學(xué)池
電化學(xué)池
通用液池的電化學(xué)工具包
- 化學(xué)選項(xiàng)
恒電位儀
雙恒電位儀
- 環(huán)境控制選項(xiàng)
手套箱
活細(xì)胞箱
- 控溫臺
控溫臺(-25 ~180度)
250度加熱臺
600度加熱臺
- 磁場發(fā)生器
平行于樣品表面的外加磁場
可調(diào)磁場
范圍：~300 gauss
- Z掃描頭
15 μm AFM Z 掃描頭
30 μm AFM Z 掃描頭
15 μm SICM 模塊 Z掃描頭
30 μm SICM 模塊 Z掃描頭
- 液態(tài)成像選項(xiàng)
液態(tài)探針柄
開放式液池
通用液池
- 隔音罩
獨(dú)立型 AE 204
獨(dú)立型 AE 301
- 夾式芯片載體
可用于未裝載懸臂
可用于導(dǎo)電式 AFM和EFM的針尖偏壓功能
針尖偏壓范圍：-10 V ~ 10 V
- 高級模式的初學(xué)者工具包
易使用的高級模式
包括特定探針和樣品
Park NX12
技術(shù)參數(shù)：
掃描器
Z掃描器
AFM 掃描頭
柔性引導(dǎo)高推動力掃描器
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
SICM 掃描頭
多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu)
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
XY 掃描器
閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器
Scan range: 100*100μm
掃描范圍：100μm ×100μm
驅(qū)動臺
XY 驅(qū)動臺行程范圍: 50 mm x 50 mm
Z驅(qū)動臺行程范圍: 25 mm
聚焦驅(qū)動臺行程范圍: 15 mm
影像
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡)
攝像頭: 5 M Pixel (默認(rèn))， 1M Pixel (可選)
物鏡
10倍 (NA. 0.23) 超長工作距離鏡頭
20倍 (NA. 0.35) 高分辨率,，長工作距離鏡頭
電子信號處理
ADC: 18 通道
24-bit ADC 的 X,， Y 和 Z 掃描器位置傳感器
DAC: 17 通道
20-bit DAC的 X， Y 和 Z 掃描器定位
集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器
彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)
數(shù)據(jù)Q 控制
暫無數(shù)據(jù),！
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