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世界**精度及強大功能Park原子力顯微鏡產品特性
Park XE15具備多個特殊功能,，是共享實驗室處理各類樣品,、研究員進行多變量實驗、失效分析師研究晶片等的不二選擇,。合理的價格搭配強健的性能設置,，使其成為業(yè)內性價比**的大型樣品原子力顯微鏡。
MultiSample™（多重采樣TM）掃描器帶來*便捷樣品測量
- 多樣品一次性自動成像
- 特殊設計的多樣品夾頭,，*多可承載16個獨立樣品
- 全自動XY樣品載臺,，行程范圍達200 mm x 200 mm。
無軸間耦合提高掃描精度
- 兩種獨立閉環(huán)XY和Z平板式掃描
- 平板式和線性XY掃描可達100μm x 100μm,，且殘余壓彎小
- 整個掃描范圍內的異面移動小于2nm
- 強力掃描器達25μm Z掃描范圍
- 精確的高度測量
Non-Contact™（真正非接觸TM）模式延長針尖使用壽命,、改善樣品保存及精度
- 其Z掃描頻寬是壓電管基礎系統(tǒng)的10倍
- 非接觸式可降低針尖磨損,、延長使用壽命
- 成像分辨率高于同類原子力顯微鏡
- 降低樣品干擾，提高掃描精度
提供**用戶體驗
- 開放式側面接入,，提高樣品及針尖更換效率
- 預對準的針尖安裝和****的軸上俯視法可簡單直觀地實現激光對準
- 燕尾鎖封片方便鏡頭拆卸
- 界面帶自動設置功能,，方便用戶使用
多種模式與選項
- 綜合性測量模式及特性設置，是我司**通用型原子力顯微鏡
- 多種可選配件及更新,，擴展性能優(yōu)越
-? 為缺陷分析提供先進電氣測量
* 產品特點
100um x 100 um掃描范圍的XY柔‘性導向掃描器
XY掃描器含系統(tǒng)二維彎曲及強力壓電堆疊,，可使極小平面外移動形成較大的正交運動，并能快速響應,，實現精確的樣品納米級掃描,。
柔性導向強力Z掃描器
在強力壓電堆疊的驅動及彎曲結構的引導下，其硬度允許掃描器高速豎直運動,，較傳統(tǒng)原子力顯微鏡掃描器更加高速,。**Z型掃描范圍搭配遠程Z掃描器（選配）可延長12μm至25μm。
滑動連接的超亮二極管頭
通過將原子力顯微鏡頭沿楔形軌道滑動,，可輕松將其插入或取出,。低相干的超發(fā)光二極管頭可實現高反射表面的精確成像和力-矩光譜的精確測量。超亮二極管頭的波長幫助減輕干擾問題,，因此用戶在可見光譜實驗中也可使用本產品,。
多樣品夾頭
特殊設計的多樣品夾頭，做多可承載16個獨立樣品,，由多重采樣掃描器自動按順序掃描,。特殊的夾頭設計為接觸樣品針尖預留了邊通道。
選配編碼器的XY自動樣品載臺
自動集成XY載臺可輕松并精確控制樣品的測量位置,。XY樣品載臺的行程范圍可配置為150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm,。若搭配自動載臺使用編碼器，可提高樣品定位的精確度和重復性,。編碼XY載臺工作時分辨率為1 μm,，重復率為2 μm。編碼Z載臺的分辨率為0.1 μm,，重復率為1 μm,。
高分辨率數碼變焦感光元件攝像頭
高分辨率數碼感光元件攝像頭利用直接同軸光學，具備變焦功能,，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質量,。
垂直對齊的自動Z載臺及聚焦載臺
Z載臺和聚焦載臺可將懸臂嚙合到樣品表面上，同時確保用戶視野清晰穩(wěn)定,。聚焦載臺是由軟件控制自動運行的,，因此滿足透明樣品及液態(tài)元件應用所需精度。
彎曲基底解耦XY和Z掃描器
Z掃描器與XY掃描器完全解耦,。XY掃描器在水平面上移動樣品,，同時Z掃描器豎直移動探針,。
此配置以*小異面移動，實現了平板式XY掃描,。此XY掃描同時還具有高正交性與線性,。
業(yè)內*低本底噪聲
為探測*小樣品的特性，幫助*快運動平面成像,，Park Systems設計了業(yè)內0.5?以下的*低本底噪聲標準設備,。使用“零掃描”探測本地噪聲數據。
真正非接觸模式延長針尖使用壽命
XE系列原子力顯微鏡已成功搭配**強力Z掃描系統(tǒng)獨有的真正非接觸模式,。真正非接觸模式下,，使用的是相吸而非相排斥的內部原子力。
真正非接觸模式因此成功地保持了針尖樣品納米級間距,，改善了原子力顯微鏡圖像,，保持針尖的銳利，因此有效延長了針尖使用壽命,。
預對準懸臂支撐
預先安裝在探針支撐上,，因此不需要嚴格對齊激光束。
高分辨率的直接同軸光學元件
用戶可直接俯視觀看樣品,，操控樣品表面,，從而很容易就能找到目標區(qū)域。高分辨率數碼攝像頭具備變焦功能,，無論是否搖攝均可確保圖像具有清晰的成像質量,。
帶DSP控制芯片的XE控制電子元件
原子力顯微鏡發(fā)出的納米級信號將由高性能Park XE電子元件控制并處理。Park XE電子元件為低噪聲設計,，配備高速處理單元,，可成功實現真正非接觸™模式，是納米級成像及電壓電流精準測量的理想選擇,。
- 600 MHz,、4800 MIPS速度的高性能處理單元
- 低噪聲設計，適合電壓電流精準測量
-通用系統(tǒng),，各SPM技術均可得到應用
- 外部信號接入模塊,，存取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
- *多16個數據成像
- **數據尺寸：4096 x 4096像素
- 16位ADC/DAC，速度達500 kHz
- TCP/IP連接,，隔離計算機接出電噪
技術參數：
掃描器： XY掃描器 Z掃描器
閉環(huán)控制的單模塊撓性XY掃描器 導向強力Z掃描器
掃描范圍：100 μm * 100 μm 掃描范圍：12 μm
25μm（選配）
樣品臺： XY臺工作范圍：150 mm * 150 mm
Z臺工作范圍：27.5 mm
聚焦臺工作范圍：20 mm
影像： 1 樣品基底
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像 樣品**尺寸：150 mm
10倍物鏡（選配20倍） 樣品**厚度：20 mm
視野： 480 μm *360 μm （10倍物鏡）
攝像頭：1M Pixel,， 5M Pixel (選配）
軟件： XEP XEI
系統(tǒng)控制和數據采集的專用軟件 AFM數據分析軟件
實時調整反饋參數
通過外部程序（選項）進行腳本級控制
售后服務：
為了給客戶提供高效便捷的售后服務,， Park公司在中國區(qū)建立有售后服務中心并配有備件倉庫,。
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Park XE15原子力顯微鏡的工作原理介紹,？Park XE15原子力顯微鏡的使用方法？Park XE15原子力顯微鏡多少錢一臺,？Park XE15原子力顯微鏡使用的注意事項Park XE15原子力顯微鏡的說明書有嗎,？Park XE15原子力顯微鏡的操作規(guī)程有嗎？Park XE15原子力顯微鏡的報價含票含運費嗎,？Park XE15原子力顯微鏡有現貨嗎,？Park XE15原子力顯微鏡包安裝嗎？
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