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集成礦物分析儀TIMA-X FEG(LM)
集成礦物分析儀TIMA-X FEG(LM)

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產(chǎn)地

捷克

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泰思肯(中國)有限公司

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儀器簡介:

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計的集成式礦物分析專家,,適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。TESCAN的獨特技術(shù)是基于一個完全集成的EDX系統(tǒng),,能以非??斓乃俣葓?zhí)行全譜掃描,可用于礦石特性檢測,、工藝優(yōu)化,、修復(fù)技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實現(xiàn)了以****的采集速度完全自動化的數(shù)據(jù)采集,,并得到快速,、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果,。

*重要的特性:

u 通過高水平的SEM和EDX硬件集成實現(xiàn)了快速、完全自動化的數(shù)據(jù)采集,;

u 基于MIRA SEM平臺,;

u 新設(shè)計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標(biāo)準(zhǔn)和法拉第杯;

u 根據(jù)客戶的需求更改樣品的尺寸,;

u *多集成4個EDX探測器確保系統(tǒng)的性能**,;

u 新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩(wěn)定性;

u 改進(jìn)的方法使數(shù)據(jù)分析既快又可靠,;

u 根據(jù)樣品的每個部分可調(diào)整掃描和EDX分析的時間,;

u 離線數(shù)據(jù)處理;

u 各種各樣的數(shù)據(jù)分析模塊,;

u 可自定義的分類規(guī)則;

u 可定制的解決方案,。

TESCAN集成式礦物分析儀(TIMA)是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀,、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動礦產(chǎn)豐度分析,、粒度解離分析,、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

TIMA的應(yīng)用范圍很寬,包括礦石性質(zhì),、工藝優(yōu)化、修復(fù),、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨特技術(shù)是基于一個完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描,。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度,進(jìn)而得到快速,、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。

TIMA硬件

TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(電子槍的恒真空與隔絕閥)提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn),,低真空模式為選配,。

大樣品室,、由計算機控制的超快樣品臺,、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計,。樣品臺可以同時容納7塊直徑**為30mm的樣品,。樣品臺內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品,。樣品臺有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),、鉑Faraday筒(BSE信號校準(zhǔn))與錳,、 銅、 石英,、碳和金元素(系統(tǒng)性能檢查)。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制,。

配件:


  • 二次電子探頭

  • 背散射電子探頭

  • 探針電流測量

  • 壓差式防碰撞報警裝置

  • 可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等,,各種配件可供選擇

關(guān)于TESCAN

TESCAN發(fā)源于全球**的電鏡制造基地-捷克Brno,,是電子顯微鏡及聚焦離子束系統(tǒng)領(lǐng)域全球知名的跨國公司,,有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史,,是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù),、聚焦離子束與飛行時間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)的開拓者,也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)***,。

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10分

易用性

10分

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