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捷克樣本
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TESCAN CLARA 是一款適用性非常廣泛的掃描電子顯微鏡,,能夠滿足各個(gè)科研和技術(shù)領(lǐng)域?qū)Σ煌牧线M(jìn)行高質(zhì)量成像和表征的需求,。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 鏡筒,該鏡筒配置了可變比例式靜電-電磁復(fù)合物鏡,,可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)無漏磁超高分辨成像,,這對于包括磁性樣品在內(nèi)的各類樣品具有廣泛的適用能力。
新一代鏡筒內(nèi)電子加速,、減速技術(shù),,保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測能力
**配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,物鏡無磁場外泄,,實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
配置4個(gè)新一代探測器,,可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面
配置大型樣品室,,有超過20個(gè)擴(kuò)展接口,,為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
可以配置 TESCAN 自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,,如EDS,、EBSD、CL,、EBL 以及實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用
模塊化 Essence™ 軟件,,直觀易用,不同技術(shù)水平的用戶,,均可輕松操作,。
獨(dú)特的探測器系統(tǒng)
獨(dú)特的鏡筒內(nèi)探測器系統(tǒng),可以根據(jù)能量和角度的不同選擇信號進(jìn)行采集,,獲得*全面的形貌和成分信息,。Multidetector 探測器配有能量過濾器,可以實(shí)現(xiàn)二次電子信號和背散射電子信號的過濾以便增強(qiáng)材料襯度以及提高表面靈敏度,并能夠?qū)崿F(xiàn)二次電子和背散射電子信號之間的實(shí)時(shí)切換,。第二個(gè)鏡筒內(nèi)探測器 — 軸向探測器(Axial detector),,能以高效率在任何著陸電壓下收集二次電子和背散射電子信號,且不會有明顯的信號損失,,這樣即使在低著陸電壓下也能夠非常簡單的進(jìn)行超高分辨二次電子成像。
TESCAN CLARA 使用了實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In Flight Beam Tracing™)和中間鏡技術(shù)(Intermediate Lens™),,可以廣泛適用于各類分析研究,。TESCAN CLARA 能夠在高束流下(**可達(dá)400 nA)仍然保持高分辨成像,這點(diǎn)對于日常分析工作而言非常便利,。TESCAN CLARA 是一款真正的多功能分析儀器,,適用于納米材料的表征,高端制造業(yè)的嚴(yán)格質(zhì)控,,以及各類研發(fā)工作,。
軟件:
·測量軟件, 公差測量軟件
·圖像處理
·預(yù)設(shè)參數(shù)
·直方圖及LUT
·SharkSEM™ 基礎(chǔ)版 (遠(yuǎn)程控制)
·3D 防碰撞模型軟件
·對象區(qū)域
·光電聯(lián)用
·定時(shí)關(guān)機(jī)
·CORAL™(用于生命科學(xué)的電鏡模塊)
·自動拼圖軟件
·樣品觀察
·TESCAN Flow™ (離線處理軟件)
根據(jù)實(shí)際配置和需求
暫無數(shù)據(jù),!