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TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

TESCAN MAGNA 是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器,，適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析,。TESCAN MAGNA 配置 Triglav™型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率,，在低電壓下尤為明顯,；鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度,，非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像,，如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品,，以及在半導(dǎo)體光敏樣品,。此外，TESCAN MAGNA 配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,，能夠提供高達(dá) 400 nA 的束流,，結(jié)合 Triglav™型 SEM 鏡筒所具備的出色納米尺度分析性能和高穩(wěn)定性,，為微分析和長(zhǎng)耗時(shí)樣品的分析應(yīng)用提供了**條件。

TESCANMAGNA 使用了全新的 TESCAN Essence™軟件,，用戶界面友好,，可以滿足各類應(yīng)用需求，可定制的布局以及自動(dòng)化的樣品制備功能,，**限度地提升了操作便捷性和工作效率,。

TESCAN MAGNA FE-SEM 主要優(yōu)勢(shì)：

* 強(qiáng)大的微觀形貌觀測(cè)和微分析能力

TESCAN **的 Triglav™型 SEM 鏡筒具有 TriLens™三物鏡系統(tǒng)，適用領(lǐng)域更加多樣化,。UH-resolution 物鏡提供的超高分辨率非常適合于形貌細(xì)節(jié)觀察,，使研究人員能夠更好的分析納米級(jí)樣品。全新的高分辨 Analytical 物鏡可實(shí)現(xiàn)無(wú)漏磁成像,，是磁性樣品觀察和分析（EDS,， EBSD）的理想選擇。第三個(gè)物鏡可以實(shí)現(xiàn)多種觀測(cè)模式切換,，新一代 Triglav™鏡筒還具有自適應(yīng)束斑優(yōu)化功能,，可以提高了大束流下的分辨率，這一特點(diǎn)有利于更好的進(jìn)行 EDS,、WDS 和 EBSD 等分析,。

* 提供**的分析條件

肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍能夠產(chǎn)生高達(dá) 400 nA 的電子束流，電壓也可以快速改變并保證在所有的分析應(yīng)用下都能夠獲得良好的信號(hào),。

* 讓復(fù)雜的應(yīng)用變的****的簡(jiǎn)單

新一代 TESCAN Essence™是一款簡(jiǎn)化的,、支持多用戶的軟件，它的布局管理器可以幫助用戶快速,、方便地訪問(wèn)所有主要功能,。軟件界面可自定義，更好地適應(yīng)特定的應(yīng)用方向,，符合不同用戶的使用偏好,。軟件的各種功能模塊、向?qū)Ш蛻?yīng)用方案使得無(wú)論是入門級(jí)用戶或是專家級(jí)用戶都能夠輕松順暢的掌握掃描電鏡的操作,，從而提升樣品的處理速度,，提高工作效率。

* 可以獲得不同襯度圖像,，**程度洞察樣品

TESCAN MAGNA 配備 TriBE™探測(cè)器系統(tǒng)：包含三個(gè)背散射電子探測(cè)器,，可以根據(jù)角度和能量的差異選擇性地收集信號(hào)。Mid-Angle BSE 和 In-Beam f-BSE 探測(cè)器位于鏡筒內(nèi),，可以接收中角度和軸向的背散射電子,，而樣品室內(nèi)背散射電子探測(cè)器則用于接收廣角背散射電子。同時(shí),，TESCANMAGNA 還配備 TriSE™探測(cè)器系統(tǒng)：共有三個(gè)二次電子探測(cè)器,，可在所有工作模式下以**方式獲取二次電子：In-Beam SE 探測(cè)器可以在非常短的工作距離下接收二次電子,；SE（BDM）為電子束減速模式下的二次電子探測(cè)器，可以提供**的分辨率,；樣品室內(nèi)的二次電子探測(cè)器則能提供**形貌襯度的圖像,。

TESCAN MAGNA FE-SEM 突出特點(diǎn)：

ü**的電子信號(hào)選擇檢測(cè)功能，幫助用戶獲得更好的表面靈敏度和襯度,。

ü進(jìn)一步提升了低電壓下超高分辨 SEM 成像,，以及在 30keV 下使用 STEM 表征納米材料的性能。

ü自適應(yīng)束斑優(yōu)化功能,，有利于更好的進(jìn)行 EDS,、WDS 和 EBSD 等分析。

* TESCAN MAGNA 基于 S9000 平臺(tái)的升級(jí),。