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TESCAN AMBER鎵離子型雙束掃描電鏡
TESCAN AMBER鎵離子型雙束掃描電鏡

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泰思肯(中國)有限公司

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TESCAN AMBER 是TESCAN第四代 FIB-SEM 的新成員,是一款超高分辨雙束 FIB-SEM 系統(tǒng),,它可以提供****的圖像質量,,具有強大的擴展分析能力,并能以**的精度,、效率完成復雜的納米加工和操作,,可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學術界研究的所有需求。

TESCAN AMBER FIB-SEM的優(yōu)點:

  • 新一代鏡筒內電子加速,、減速技術,,保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

  • **配置的靜電-電磁復合物鏡,物鏡無磁場外泄,,實現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

  • 配置4個新一代探測器,,可實現(xiàn)9種圖像觀測,對樣品信息的采集更加全面

  • 配置大型樣品室,,有超過20個擴展接口,,為原位觀測、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,,并**實現(xiàn)與TOF-SIMS,、Raman聯(lián)用

  • 新一代操作軟件和自動功能,F(xiàn)IB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中,,極大簡化了操作

新一代 Orage™ Ga FIB鏡筒,,適用于各類具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務

TESCAN AMBER 配置了**的 BrightBeam™ 鏡筒,實現(xiàn)了無磁場超高分辨成像,,可以**化的實現(xiàn)各種分析,,包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設計增強了低能量電子成像分辨率,,特別適合對電子束敏感樣品和不導電樣品的分析,。創(chuàng)新的 Orage™ Ga FIB 鏡筒配有***的離子槍和離子光學鏡筒,使得TESCAN AMBER成為了世界**的樣品制備和納米圖形成型的儀器,。

TESCAN AMBER 束流可達100nA,,具有超快速的加工能力,新穎的 SmartMill 高速切割功能,,使得加工效率提升一倍,。

TESCAN AMBER 離子能量*低可達500eV,擁有更優(yōu)秀的低壓樣品制備能力,,可以快速制備無損超薄TEM樣品,。

可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,并**實現(xiàn)與TOF-SIMS,、Raman一體化,。

新一代OptiGIS™氣體注入系統(tǒng)TESCAN AMBER 可配置**的多種探測器,,包括透鏡內Axial detector 以及 Multidetector,可選擇不同角度和不同能量來收集信號,,體現(xiàn)更多種類的信息,,同時獲得更好的表面靈敏度和對比度。TESCAN AMBER 有兩種氣體注入系統(tǒng)可供選擇,,標準的5針-GIS和新一代OptiGIS單針-GIS,,單針的OptiGIS支持通過更換氣罐來更換化學氣體,避免了以往多針氣體注入系統(tǒng)樣品倉內占用空間大的問題,。

兩種氣體注入系統(tǒng)均可以選擇多種沉積氣體,其中W,、Pt,、C等用于導電材料沉積,SiOx用于絕緣材料沉積,,XeF2,、H2O等用于增強刻蝕,或其它定制氣體,。

新一代Essence™操作軟件,,更簡單、高效的操作平臺TESCAN AMBER 可配置**的多種探測器新操作軟件極大簡化了用戶界面,,能快速訪問各主要功能,,減少了繁瑣的下單菜單操作,并優(yōu)化了操作流程向導,,易于學習,,兼容多用戶需求,可根據(jù)工作需要定制操作界面,。

新穎的樣品室內3D空間位置和移動軌跡模擬功能,,可避免誤操作,造成碰撞,。

樣品室內的3D空間位置和移動軌跡模擬

集成多項創(chuàng)新性設計,,拓展新應用領域的利器TESCAN AMBER 可配置**的多種探測器,集成了BrightBeam™ SEM鏡筒,、Orage™ Ga-FIB鏡筒,、OptiGIS氣體注入系統(tǒng)等多項創(chuàng)新設計,在高分辨能力,、原位應用擴展能力和分析擴展能力方面達到了業(yè)內**水平,,此外新一代操作流程和軟件也給使用者帶來更舒適、高效的體驗,。

* TESCAN AMBER 是 S8000G 升級機型,。

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TESCAN AMBER鎵離子型雙束掃描電鏡信息由泰思肯(中國)有限公司為您提供,,如您想了解更多關于TESCAN AMBER鎵離子型雙束掃描電鏡報價,、型號、參數(shù)等信息,,歡迎來電或留言咨詢,。
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