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TESCAN綜合礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,，適用于采礦和礦物加工行業(yè),。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動礦產(chǎn)豐度分析,、粒度解離分析,、礦物組合分析和顆粒尺寸分析,。
TIMA的應(yīng)用范圍很寬，包括礦石性質(zhì),、工藝優(yōu)化,、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等,。TESCAN的獨(dú)特技術(shù)是基于一個完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描,。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度，進(jìn)而得到快速,、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果,。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命,。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn),，低真空模式為選配。
大樣品室,、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺,、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺可以同時容納7塊直徑**為30mm的樣品,。樣品臺內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品,。樣品臺有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒（BSE信號校準(zhǔn)）與錳,、 銅,、 石英、碳和金元素（系統(tǒng)性能檢查）,。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制,。
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報(bào)警裝置
可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等，各種配件可供選擇
關(guān)于TESCAN
TESCAN發(fā)源于全球**的電鏡制造基地-捷克Brno,，是電子顯微鏡及聚焦離子束系統(tǒng)領(lǐng)域全球知名的跨國公司,，有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史，是掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù),、聚焦離子束與飛行時間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù)的開拓者,，也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)***。
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