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掃描探針顯微鏡的設(shè)計易于集成到電子顯微鏡中,。 互補的SPM 和SEM 技術(shù)的結(jié)合使得能夠利用兩種常用顯微鏡技術(shù)的優(yōu)勢,。
LiteScope™提供了廣泛的掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式,，可通過更換探針輕松使用。
表面形貌的表征
機械性能
電性能
磁性
聚焦離子束（FIB)
氣體注入系統(tǒng)（GIS）
用于制造納米/微結(jié)構(gòu)和表面修飾,。通過這種組合,，LiteScope™可以輕松快速地對制造的結(jié)構(gòu)進行3D檢查,。
獨特的相關(guān)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）
全球**的的相關(guān)電子顯微鏡技術(shù)
全面的表面表征–形貌,，粗糙度,，磁性能,，電導(dǎo)率,，電性能
樣本上的信息提示導(dǎo)航
不到五分鐘即可輕松集成和安裝/拆卸
隨插即用
與FIB,，GIS，EDX和其他配件兼容
自感應(yīng)探頭,，無需光學檢測，無需激光調(diào)整
商用探頭,，多種測量模式
客戶定制的探頭可與根據(jù)客戶要求設(shè)計的合適探頭支架一起使用
測量頭可以縮回到LiteScope™的主體中,，以釋放樣品周圍的空間
SPM在傾斜位置（傾斜0°– 60°）的操作，*小值 WD = 5毫米
用戶友好的軟件,，無需特殊安裝
遠程訪問結(jié)果和測量設(shè)置
關(guān)聯(lián)顯微鏡是一種受益于兩種不同技術(shù)的同一對象成像的方法。
相關(guān)探針 和電子顯微鏡（CPEM）已開發(fā)用于使用相關(guān)成像技術(shù)（正在申請**）,，并帶來了解決方案,，該解決方案可以同步：
掃描區(qū)域
分辨率和圖像失真
并能夠?qū)崟r關(guān)聯(lián)采集的SPM和SEM圖像
CPEM技術(shù)是市場上同類產(chǎn)品中的**個，它允許在同一位置和同一時間使用同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)測量SPM和SEM,。
通過電子掃描樣品進行二維分析,。
通過物理探針掃描樣品,。
結(jié)合了兩種技術(shù)，并提供獨特的相關(guān)成像,。
CPEM可以在同一時間和同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)中同時通過SEM和SPM對一個區(qū)域進行同時的表面表征,。
以已知的恒定偏移量和相同的分辨率進行同時掃描，可確保在同一表面上進行分析,，并可通過我們的NenoView軟件直接用于在線成像,。
LiteScope™通常用于高真空中，但也可根據(jù)要求適用于超高真空條件,。
總重量：1 kg
真空工作范圍：10e5 Pa至10e-5 Pa
掃描范圍X,，Y，Z：100×100 ×1 00μm或38x38x38μm
分辨率：高達0.4 nm或0.07 nm
**樣品尺寸：10毫米× 10毫米
**樣品高度：8毫米
我們提供完全非磁性的版本,，也可根據(jù)要求提供閉環(huán),。
LiteScope™放置在SEM / FIB顯微鏡的載物臺上，甚至可以在傾斜位置進行測量,，例如與FIB技術(shù)同時使用,。
外形小巧，體積小,， 可集成到SEM / FIB儀器中
易于集成的過程 –安裝在SEM / FIB機械手上
當整個SPM探針隱藏在LiteScopeTM主體中時,，可使用對接選項
通用探頭支架，適用于多種SPM方法并易于“即插即用”組裝
樣品傾斜高達60°
針對低振動水平（剛度和適當?shù)墓舱耦l率）進行了優(yōu)化的機械設(shè)計,，集成了前置放大器（以盡可能消除信號失真/噪聲）
所有控制LiteScope™的電子設(shè)備都集成到一個控制單元中,。該單元是標準的19英寸機架，可以輕松地安裝在SEM電子設(shè)備的空閑插槽上,，也可以簡單地自由放置以匹配手頭任務(wù)的需要,。
動態(tài)測量的**PLL頻率為75 kHz，適用于基于音叉的探頭（或使用外部PLL或根據(jù)客戶要求更高）
每個掃描軸2 × 16位DAC（掃描范圍,，偏移）,，以在視場內(nèi)的任何地方達到**分辨率
6 × 16位輔助輸入，用于同時測量用戶信號（±10 V）
輸入通道可用于反饋回路混頻器
探頭信號輸出/監(jiān)控
外部探頭激勵
使用外部鎖定/ PLL所需的所有連接
以太網(wǎng)連接到控制PC
110 VAC或230 VAC操作,，200 W
前置放大器位于LiteScope™的主體內(nèi),，可確保大大降低電噪聲
NenoView是用戶友好的軟件，它可以完全控制設(shè)置測量,，數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理,。NenoView 支持CPEM技術(shù)，并使其能夠直接和內(nèi)部利用相關(guān)成像,。
保存數(shù)據(jù)以及所有信息,，包括測量設(shè)置
基于Web的用戶界面
易于新用戶使用，對專家靈活
用戶帳戶可單獨配置
遠程訪問用戶數(shù)據(jù)
將數(shù)據(jù)從控制PC下載到本地計算機
通過平板電腦,，智能手機等進行遠程實驗控制
集成的數(shù)據(jù)后處理,，分析,，導(dǎo)出等
LiteScope™提供并支持各種SPM測量方法和探頭。
其設(shè)計的基石和*有價值的技術(shù)特征是通用探頭支架,，可以非常輕松地“即插即用”安裝不同的探頭,。
| Akiyama probes | Tuning fork based probes | PRS/A* | Pt/Ir wire | |
|---|---|---|---|---|
| STM (Scanning Tunneling Microscopy) | Yes | Yes | No | Yes |
| AFM – Contact Mode | No | No | Yes | No |
| AFM – Tapping Mode | Yes | Yes | Yes | No |
| AFM – Conductive Mode | No | Yes | No | No |
| MFM (Magnetic Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| EFM (Electrostatic Force Microscopy) | No | Yes | No | No |
| FMM (Force Modulation Mode) | No | No | Yes | No |
| Local voltage measurement | No | Yes | No | Yes |
| Local current measurement | No | Yes | No | Yes |
* Piezo-Resistive Sensing / Active (PRSA) probes
接觸模式
在接觸模式下，尖端在整個樣品表面上“下垂”,，并且可以直接使用懸臂的偏轉(zhuǎn)來測量表面的輪廓,，或更常見的是，使用將懸臂保持在一定角度所需的反饋信號進行測量,。恒定撓度,。
輕敲模式
在輕敲模式下，驅(qū)動探頭以其共振頻率或接近共振頻率垂直振蕩,。這種振動是通過探針（音叉）,，集成加熱器元件（PRSA）或懸臂支架（PRS）中的小型壓電元件的壓電特性實現(xiàn)的。這種振蕩的幅度通常在幾納米到200納米之間變化,。
導(dǎo)電模式
C-AFM）是原子力顯微鏡（AFM）的一種變體,，與形貌學同時測量電流以構(gòu)建研究樣品的電導(dǎo)率圖。電流流過顯微鏡的金屬涂層尖端和導(dǎo)電樣品,。
EFM是一種動態(tài)非接觸式原子力顯微鏡,，可在其中探測靜電力。由于分離的電荷的吸引或排斥而產(chǎn)生該力,。這是一個遠距離作用力,，可以從樣品中檢測出100 nm或更大的距離。
LiteScopeTM也可用作獨立的納米操縱器,。將金屬尖端粘貼在樣品中所需的位置,，然后測量局部電壓/電流。此模式不是顯微鏡技術(shù),，但可用于測量例如電子束感應(yīng)電流等,。
FMM是在接觸模式下運行的AFM成像的擴展，用于檢測樣品表面機械性能的變化,，例如彈性或附著力,。
在FMM模式下，AFM尖端與樣品表面接觸時進行掃描,，并且Z反饋環(huán)與恒力模式AFM一樣保持恒定的懸臂撓度。
KPFM是一種掃描探針法,，其中可以使用與宏觀Kelvin探針相同的原理來測量探針尖端與表面的局部接觸電勢差,。AFM中的懸臂是一個參比電極，該參比電極與表面形成電容器,，在該表面上以恒定間隔橫向掃描,。懸臂不是像通常的AFM那樣以其機械共振頻率ω0從外部驅(qū)動,，盡管在此頻率下在尖端和表面之間施加了交流電壓。
MFM是原子力顯微鏡的一種模式,，其中尖銳的磁化尖端可掃描磁性樣品,；尖端樣品的磁性相互作用被檢測到并用于重建樣品表面的磁性結(jié)構(gòu)。
MFM可測量多種類型的磁相互作用,，包括磁偶極-偶極相互作用,，磁疇壁，磁渦旋等,。MFM掃描通常使用非接觸式AFM（NC-AFM）模式,。
STM是一種用于在原子水平上成像導(dǎo)電表面的技術(shù)。STM不僅可以用于超高真空,，還可以在空氣,，水以及各種其他液體或氣體環(huán)境中使用，溫度范圍從接近零開爾文到幾百攝氏度,。
該探頭基于石英音叉 和微機械懸臂
這種新型探頭的**優(yōu)點是,，用戶可以通過一個探頭同時受益于音叉的極其穩(wěn)定的振蕩和硅懸臂的合理彈簧常數(shù)。
由NANOSENSORS提供
壓電電阻敏感有源（PRSA）探頭是硅懸臂梁,，具有集成的壓電電阻橋和熱加熱器,，用于自感應(yīng)和自觸發(fā)掃描探頭顯微鏡應(yīng)用。
壓電電阻集成到匹配的惠斯通電橋中,，以優(yōu)化靈敏度并補償環(huán)境熱漂移,。
由SCL-Sensor.Tech提供
石英音叉用于檢測尖端和表面之間的原子力。音叉的高剛度可實現(xiàn)非常低的振蕩幅度,，而高Q因子可確保足夠的靈敏度,。探頭可以具有一個導(dǎo)電尖端，該導(dǎo)電尖端可以連接到電子讀數(shù)器（用于導(dǎo)電AFM或隧穿電流讀數(shù)器）,，而不會與叉形電極發(fā)生串擾,。樣品的磁性也可以通過帶有鐵磁尖端的音叉?zhèn)鞲衅鱽頇z查。此外,，有經(jīng)驗的*終用戶可以使用各種尖端材料來構(gòu)造音叉?zhèn)鞲衅?，以調(diào)節(jié)所需的特性。
導(dǎo)線是用于STM測量的基本探針,。
盡管Pt / Ir合金是*容易用于此目的的合金之一,，但可以使用許多其他材料（例如金，鉬,，鎳等）,。導(dǎo)線可以被電化學蝕刻或機械切割以形成非常鋒利的尖端。這種探針還適合在納米操縱器模式下進行本地電壓/電流測量,。
LiteScope™是專為在“ 即插即用 ”模式下集成到不同制造商的SEM顯微鏡而設(shè)計的,。我們提供可以根據(jù)客戶要求定制的適當適配器和饋通,。
LiteScope™易于安裝，只需通過四個螺釘將電子顯微鏡連接到樣品臺,，即可將電纜插入已準備好的真空饋通中,。
暫無數(shù)據(jù)！
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