參考價(jià)格
面議型號(hào)
品牌
產(chǎn)地
德國(guó)樣本
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虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
能夠測(cè)量小至1mm的晶體到或更大的樣品
各種樣品架及輸送夾具,,用于線鋸,、拋光等
側(cè)晶方向標(biāo)記選項(xiàng)
無(wú)水冷卻
**精度:0.01°(視晶體質(zhì)量而定)
確定單晶的完全晶格取向
使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量
氣冷式X射線管,無(wú)需水冷
適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制
手動(dòng)操作(沒(méi)有自動(dòng)化選項(xiàng))
晶體的方向是由反射位置決定 適合多種材料
可測(cè)量材料的例子
立方/任意未知方向:Si,, Ge,, GaAs, GaP,, InP
立方/特殊取向:Ag,, Au, Ni,, Pt,, GaSb, InAs,, InSb,, AlSb, ZnTe,, CdTe,, SiC3C, PbS,, PbTe,, SnTe, MgO,, LiF,, MgAl2O4, SrTiO3,, LaTiO3
正方:MgF2,, TiO2, SrLaAlO4
六方/三角:SiC 2H,, 4H,, 6H,, 15R, GaN,, ZnO,, LiNbO3, SiO2(石英),,Al2O3(藍(lán)寶石),,GaPO4, La3Ga5SiO14
斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3
可根據(jù)客戶(hù)的要求進(jìn)一步選料
SDCOM的應(yīng)用
平面方向的標(biāo)記和測(cè)量
Omega掃描能夠在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位,。因此,,平面方向可以直接識(shí)別。這是一個(gè)有用的功能,,以標(biāo)記在平面方向或檢查方向的單位或缺口,。
在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中,平面或凹槽作為定位標(biāo)記,。經(jīng)過(guò)加工后,,晶圓片攜帶數(shù)百個(gè)芯片,需要通過(guò)切割將其分離,。
晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面,。因此,檢查平臺(tái)或缺口的位置是必要的,。為了確定平面或缺口的位置,,必須測(cè)量平面內(nèi)的部件。
該儀器通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán),,可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶(hù)指定的特定位置,。這簡(jiǎn)化了將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的任務(wù),例如必須定義平面方向時(shí),。
對(duì)于高吞吐量應(yīng)用程序,,可提供自動(dòng)測(cè)量解決方案。
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