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特點
Omega/Theta X射線衍射儀是一個全自動的垂直三軸衍射儀,,使用Omega掃描和Theta掃描方法以及搖擺曲線測定各種晶體的方位,。大而寬敞的設計可以容納長達450毫米和30公斤的重量和樣品架。
所有的測量都是自動化的,,可以通過用戶友好的軟件界面進行訪問,。利用Omega掃描,可以在晶體旋轉(5秒)中確定完整的晶格方向,。Theta掃描更加靈活,,但每次掃描只產(chǎn)生一個方向分量。
可以非常精確地確定傾斜角度,,使用Theta掃描到0.001°,。對于所有其他的晶體方向,精度取決于垂直于表面的角差,。
該系統(tǒng)是模塊化的,,并配備了許多不同的擴展用于特殊目的,如形狀或平面的確定,,繪圖和不同的樣品架。樣品的傾斜度是通過光學測量來檢測的,,可以用來校正*終的方向,。
單晶衍射儀
Omega掃描圖(SiC) 渦輪葉片,一個方向組件的映射圖
(Si,, Ge)晶圓,,定向圖 晶格參數(shù)映射圖
全自動單晶完全晶格取向測量
使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量
自動搖擺曲線測量
衍射儀的角分辨率:0.1弧秒。
樣本大小可達450毫米
適合于生產(chǎn)質量控制和研究
用戶友好和成本效益
樣品處理方便,,操作方便
先進的,,用戶友好的軟件
低能耗,低運營成本
模塊化設計和靈活性
各種升級選項
定制用戶的需求
Omega/Theta X射線衍射儀的應用
具有多種幾何形狀和大小的樣品
單晶的工業(yè)合成從大而重的晶體開始,,到小塊如晶圓或坯,。實驗生長產(chǎn)生微小的圓柱體。
根據(jù)材料和產(chǎn)量的不同,,晶體樣品可以表現(xiàn)出多種尺寸和幾何形狀,。
Omega/Theta X射線衍射儀可以處理大塊鋼錠或鋼球和實驗合成的微小晶體。
非線性光學材料(NLO):晶體質量和定向
與典型的無機金屬,、半導體和絕緣體相比,,NLO材料具有更復雜的晶體結構和更低的對稱性。這種結構創(chuàng)造了一個高度各向異性的環(huán)境,,
光通過晶體,,并導致他們的特殊性質,。這些晶體通常被切割成尺寸在毫米范圍內(nèi)的小棒,作為頻率倍增器和光學參量振蕩器的有源元件,。
對這種小晶體的表面質量測定常??梢越沂揪w內(nèi)部的結構缺陷和裂紋。
這些材料的大單位晶胞是Omega掃描方法的一個挑戰(zhàn),。我們能夠確定許多NLO材料,,如LBO, BBO和TeO2的Omega掃描參數(shù)的*重要的方向,。
對Omega/Theta的設計進行了一些特殊的修改,,以涵蓋幾種不同材料的NLO能力。
平面方向的標記和測量
Omega掃描能夠在一次測量中確定完整的晶體方位,。因此,,平面方向可以直接識別。這是一個有用的功能,,以標記在平面方向或檢查方向的單位或缺口,。
在晶圓片的注入和光刻過程中,平面或凹槽作為定位標記,。經(jīng)過加工后,,晶圓片攜帶數(shù)百個芯片,需要通過切割將其分離,。
晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面,。因此,檢查平臺或缺口的位置是必要的,。為了確定平面或缺口的位置,,必須測量平面內(nèi)的部件。
該儀器通過旋轉轉盤,,可以將任何平面方向轉換成用戶指定的特定位置,。這簡化了將標記應用到特定平面方向的任務,例如必須定義平面方向時,。
對于高吞吐量應用程序,,可提供自動測量解決方案。
搖擺曲線:晶體表面評價
搖擺曲線測量對晶格內(nèi)的缺陷和應變場很敏感,。將這種技術與映射階段相結合,,可以掃描晶體表面并確定缺陷區(qū)域。在晶格匹配的薄膜中,,
搖擺曲線也可以用來研究層厚,、超晶格周期、應變和成分剖面、晶格失配,、三元結構和弛豫,。
晶圓片表面必須達到非常高的清潔和均勻性標準。制造商正努力使晶體的位錯和缺陷盡可能少,。特別是在碳化硅方面,,消除錯位為這種材料提供了新的應用領域。
通過裝備一個具有映射階段和雙晶體的Omega/Theta衍射儀,,可以測量晶體表面某一反射的搖擺曲線映射,。圖像顯示的結果,這種映射的碳化硅晶圓,。
晶圓片的內(nèi)部呈現(xiàn)出兩到三倍于搖擺曲線的FWHM,。這可能與表面劃痕或生長缺陷有關。
暫無數(shù)據(jù),!