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美國Microvision System成立于1993年,，是全球顯示器測試系統(tǒng)的主要供應商,，可以檢測FPD CRT，PLASMA,， HDTV,， OLED， HUD,， HDD投影機等,，應用于R&D， QC及工業(yè)測試,。Microvision System以技術先進的產品及完善的售后服務,，贏得用戶的尊敬,。
系統(tǒng)功能說明：
Microvision顯示器測量系統(tǒng)可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420，使用一組抵用平臺和控制電腦,，經由專業(yè)控制軟件,，進行顯示器光學特性的自動測量和分析。
Microvision+SS410-XE+顯示屏測量系統(tǒng)
SS410-XE顯示屏測量系統(tǒng)
應用領域：
顯示屏技術
自動測量平臺
-TCO顯示器6.0和TCO筆記本
-ISO 9241-307標準
-VESA FPDM 2.0
-定制（用戶自定義）測量平臺
SS410-XE測量
CCD測量
- 光點亮度分析
- 線寬
-快速傅立葉轉換(FFT’s)
-MTF調制轉換函數(shù)計算
-收斂測試
-幾何圖（(Pincushion,， Linearity,， etc.)，可以得到所有幾何失真的參數(shù)
-時變性測量(Jitter,， Swim,， Drift)
光譜儀
-亮度
-色度和色溫
-亮度/色彩均勻度
-可見光譜的頻譜圖
-伽馬
-對比度
-色差
-3D顯示分析
-3D眼鏡測量
RTM(選配)
-動態(tài)模糊/動態(tài)偽像/MPRT
-響應時間和閃光
-灰階轉換時間
SS410-XE特征
-高分辨率1392x1040 12位元數(shù)字CCD相機
-衍射光柵光譜儀
-自動測量
-實時圖像處理
-模式發(fā)生器（模擬和數(shù)字驅動）
-響應時間模組（選配）
-余弦擴散器
SS410-XE系統(tǒng)簡介：
Microvision的SS410-XE顯示屏測量系統(tǒng)滿足了廣泛的測量需求以及具有自動測試和分析功能。SS410-XE是一套全方位鑰匙系統(tǒng),，包括了一臺計算機控制器,，CCD和光譜儀數(shù)據(jù)采集相機。同時包括了三軸計算機控制定位系統(tǒng),，使得相機系統(tǒng)可快速,、自動定位在UUT表面的任何位置。定位系統(tǒng)還能快速連接和斷開任何一個SS400系列模組,。系統(tǒng)信息展示采用了窗口用戶界面以及測試結果生動地展示在簡易界面以及可以以文本或者CSV日記文件的格式導出,。
自動測試平臺
一個測試平臺是一套預定義或者用戶定義的測量平臺。預定義的測量平臺專門適用于工業(yè)標準,，比如ISO,，TCO和VESA。 并且提供了電子數(shù)據(jù)表自動計算出所有通過/失敗標準,。用戶自定義平臺可以簡單地組裝儀器檢測可檢測列表中所需功能的各個參數(shù)。操作簡單,，菜單驅動界面友好,，能在幾分鐘內兼容各種定制測試平臺。每個用戶自定義測量平臺都可以保存并且能夠在未來要使用時重新激活,。測試平臺同時提供了保存每個測試屏幕到BMP文件的功能,，這樣大大提高了結果處理的有效性,。
系統(tǒng)組件：
機械定位系統(tǒng)
MicroVision的定位系統(tǒng)提供了水平（X）,，垂直（Y）和縱向（Z）軸移動，全集成了驅動電子,，電源和置于水平位置的接口,。定位器的控制通過軟件控制或者通過使用鼠標或者鍵盤進行自動操作,。
系統(tǒng)軟件
SS410-XE系統(tǒng)適用于Win7操作系統(tǒng)，因為在Win7操作系統(tǒng)中GUI可允許系統(tǒng)的易點和點擊操作和控制,。GUI使得軟件操作直觀以及提供完成一系列的顯示屏分析和測量功能,。測量數(shù)據(jù)以文本文件報告生成,，以及以全彩色圖的形式展示以便更簡單地集成結果。
SS410-XE光學模塊
Microvision的SS4410-XE模塊可進行空間,、光像,、時域和色彩測量。模塊包括了三個不同的光學系統(tǒng)：CCD相機,，衍射光柵光譜儀以及一個選配的響應時間模塊(RTM),。具有自動控制機械快門，在沒有操作員介入的情況下也可實現(xiàn)偏振/暗電流校準,。
光學
SS410-XE光譜儀光學系統(tǒng)包括了一個12mm準直鏡頭和一個石英消偏器,。一個選配的余弦用于測量照度值。SS410-XE CCD光學模塊系統(tǒng)包括了一個25MM C Mount鏡頭和間隔工具,。標準的放大率允許了11MM樣本（平方）和可增加間隔或者提高或者減小放大率,。提供了Ronchi Ruling用于空間校準。選配的RTM模塊采用了一個25MM C Mount鏡頭,。
CCD相機
SS410—XE相機是一款數(shù)字化1392*1040 CCD帶有同步捕捉功能和6.45微米元素尺寸,，平方。相機可校準到NIST可追溯標準和一個光學濾鏡是專門設計用于測量亮度,。CCD相機提供了空間和亮度測量,。
計算機系統(tǒng)
先進的臺式電腦或者可以選擇筆記本電腦進行所有系統(tǒng)組件的控制。
光譜儀
SS410-XE是配置了非常高分辨率,，多元素,，溫度控制衍射光柵光譜儀。儀器校準到NIST可追溯標準以及通過使用計算機控制傳感穩(wěn)定溫度進行校準,。光譜儀提供了亮度和色度的測量,，同時可測量整個可見光譜（380nm-780nm）中的頻譜圖?？蛇x擇近紅外NIR,。光纖組件纜線設定了光從測量表面發(fā)出到光譜儀的路徑。由此產生的光譜會成像于2048元素CCD探測器以及數(shù)據(jù)會通過一個16位元A/D轉換器轉換到計算機
SS410-XE系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
高分辨率數(shù)字CCD相機：
| 成像傳感器： | 1392 x 1040 elements |
| 數(shù)字視頻： | 12 bit |
| 元素尺寸： | 6.45 μm,， square pixels |
| 同步： | Synchronous Capture |
| 濾鏡： | Photopic,， 50%， 25%,， 10%,，&1% ND |
| 標準鏡頭 | 25mm C mount， f1.6 to f16 |
| 視場 | 11 mm Standard,， adjustable. |
| 數(shù)字變焦： | up to 32X |
| 亮度精度： | +/- 4% @2856K illuminant A |
| 亮度范圍： | 0.05 to 106cd/m2 with ND filters |
| 測量時間： | <1 s for most measurements |
衍射光柵光譜儀
| 光譜范圍： | 380 to 780nm (1000nm optional) |
| 亮度范圍： | 0.01 to 500K cd/m2 ** |
| 亮度精度： | +/- 3% @ 2856K illuminant A |
| 重復率： | RSD over 30 minutes < 0.5% 0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD |
| 色彩精度： | +/- 0.002 @ 2856K |
| 色彩重復率： | +/- 0.0005 @ 2856K |
| 溫度控制： | Computer controlled |
| 光學： | 12mm collimated system |
| 接受角度： | 1.5° standard |
| 集成時間： | 16.7 ms - 5000 ms (sync @ 60Hz) |
| 光學分辨率： | 3.8 nm (slit width 100 μm) |
| 校準： | NIST Traceable calibration |
| 操作溫度： | 5o - 30o C |
范圍包括了中性濾光片的使用,。
暫無數(shù)據(jù)！
Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)的工作原理介紹,？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)的使用方法？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)多少錢一臺,？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)使用的注意事項Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)的說明書有嗎,？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)的操作規(guī)程有嗎？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)的報價含票含運費嗎,？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)有現(xiàn)貨嗎,？Microvision SS410-XE顯示屏光學測試系統(tǒng)包安裝嗎？
移動端
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