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透射電鏡原位電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)
一桿多用:僅僅通過(guò)更換芯片,,即可實(shí)現(xiàn)原位加熱,、原位電學(xué)、原位液體和原位氣體研究,,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,,極大的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。
由優(yōu)秀科學(xué)家精心研發(fā)制造,,性能優(yōu)越,,質(zhì)量可靠。
透射電子顯微鏡是**的提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn) 手段,。透射電子顯微鏡原位電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元,,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和電學(xué)測(cè)量。并可在電學(xué)測(cè)量 的同時(shí),,動(dòng)態(tài),、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分,、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,,極 大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,,分別是掃描探針控制器(內(nèi)含電流前置放大器)與原位測(cè)量樣品桿部分,。
透射電鏡原位光電性質(zhì)測(cè)試系統(tǒng)
本系統(tǒng)是在透射電鏡標(biāo)準(zhǔn)樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)精度的操縱與定位,。通過(guò)電學(xué)探針施加電場(chǎng),,通過(guò)光纖施加光場(chǎng),對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控并進(jìn)行電學(xué)性質(zhì),、光學(xué)性質(zhì)的測(cè)量,。并可在物性測(cè)量的同時(shí),動(dòng)態(tài),、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu),、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,,極大地?cái)U(kuò)展了透射電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域,。
透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)
透射電子顯微鏡原位力學(xué)-電學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi) 加裝掃描探針控制單元和納牛頓力傳感器,,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操控和拉應(yīng) 力、壓應(yīng)力,、電學(xué)測(cè)量,。并可在力學(xué)、電學(xué)測(cè)量的同時(shí),,動(dòng)態(tài),、高分辨地對(duì)樣品的晶 體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分,、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征,,極大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與 應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,,分別是掃描探針控制器與原位測(cè)量樣品桿部分,。
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