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透射電鏡原位電學性能測試系統(tǒng)
一桿多用:僅僅通過更換芯片,,即可實現(xiàn)原位加熱,、原位電學、原位液體和原位氣體研究,,極為有效的幫助科研人員提高科研水平,,極大的拓展透射電鏡TEM應(yīng)用范圍。
由優(yōu)秀科學家精心研發(fā)制造,,性能優(yōu)越,,質(zhì)量可靠。
透射電子顯微鏡是**的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗 手段,。透射電子顯微鏡原位電學性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝 掃描探針控制單元,,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和電學測量。并可在電學測量 的同時,,動態(tài),、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學組分,、元素價態(tài)進行綜合表征,,極 大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,,分別是掃描探針控制器(內(nèi)含電流前置放大器)與原位測量樣品桿部分,。
透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)
本系統(tǒng)是在透射電鏡標準樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對電學探針與光纖探針進行亞納米級精度的操縱與定位,。通過電學探針施加電場,,通過光纖施加光場,對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控并進行電學性質(zhì),、光學性質(zhì)的測量,。并可在物性測量的同時,動態(tài),、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu),、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,,極大地擴展了透射電鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域,。
透射電鏡原位力學-電學性能測試系統(tǒng)
透射電子顯微鏡原位力學-電學性能測試系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi) 加裝掃描探針控制單元和納牛頓力傳感器,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和拉應(yīng) 力,、壓應(yīng)力、電學測量,。并可在力學,、電學測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶 體結(jié)構(gòu),、化學組分,、元素價態(tài)進行綜合表征,極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與 應(yīng)用領(lǐng)域,。 本系統(tǒng)包括包括兩部分,,分別是掃描探針控制器與原位測量樣品桿部分。
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