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Dimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension® Icon®分辨率的儀器性能前提下,大限度的成像速度,。這項技術,,解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間,。
AFM使用效率和檢測性能,,Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),不降低分辨率,,不增加操作復雜性,,不影響儀器使用成本的前提下,幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng),,即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望,。當您對樣品進行掃描時,wu論設置實驗參數(shù)為掃描速度 > 125Hz,,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像,都能得到優(yōu)異的高分辨圖像,??焖賿呙柽@一技術重新定義了AFM儀器的操作和功能。,。聚合物材料表征,,集成光路測量,材料力學性能表征,,MEMS制造,,細胞表面形態(tài)觀察,生物大分子的結構及性質,,數(shù)據(jù)存儲,,金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究,食品、化學品,、護膚品的加工/包裝,,液晶材料性能表征,分子器件,,生物傳感器,,分子自組裝結構,光盤存儲,,陶瓷工藝,,薄膜性能表征,地質,、能源,、環(huán)境等領域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作
儀器檢測性能
· 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節(jié)和檢測器調節(jié),,智能進針,,大大縮短了實驗時間。
· 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)結合,,大幅高了實驗數(shù)據(jù)的可信度和可重復性,。
測量分辨率
· Fastscan的力控制模式圖像分辨率的同時,延長了探針的使用壽命,。
· 掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像,,掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
· 低噪音,,溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平,。
測試功能,適用于各類AFM樣品
· 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器降低了Z方向噪音,,使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm,,具有超低的熱漂移率,可得到分辨的真實圖像,。
· Fast Scan可以對不同樣品進行測量,,掃描過程中從埃級到0.1μm的無失真掃描。
不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和分辨率的圖像,,還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進行高速掃描檢測,,Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會幫助您將儀器的功能開發(fā)到大程度,實現(xiàn)其它單一模式的儀器所達不到的效果,。
暫無數(shù)據(jù),!