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德國布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)是一項創(chuàng)新性的設(shè)計,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,,測量重復(fù)性可以達到5?,。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新,更加鞏固了其行業(yè)地位,。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,,操作更簡易,,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導體,,電池,,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。
臺階儀Dektak XT能實現(xiàn):· 無可匹敵的性能,,臺階高度重現(xiàn)性低于4埃
· Single-arch設(shè)計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
· 先進的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準
· 新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短40%
· 64-bit,,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
· 頻率,,操作簡易
· 直觀的Vision64用戶界面,,操作簡易
· 針尖自動校準系統(tǒng)
· 布魯克(Bruker)以實惠的配置實現(xiàn)高的性能
· 單傳感器設(shè)計,,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍
40多年不斷創(chuàng)新 建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識和經(jīng)驗之上薄膜測試儀,,在基于微處理器的輪廓儀,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的,。新的DektakXT是首部single-arch設(shè)計的探針輪廓儀,,首部內(nèi)置真彩高清光學攝像機,及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
有超過一萬臺設(shè)備,,品牌Dektak以質(zhì)量,、可靠性及高性價比著稱,。當需要臺階高度、表面粗糙度,、可靠測量時,,人們就會借助Dektak。引進DektakXT,,Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量
提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 利用直接驅(qū)動掃描平臺,,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲,。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描(就探針輪廓儀而言,,通常是耗時的)的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%,。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面,,簡化了實驗操作設(shè)置,,自動完成多掃描模式,讓重復(fù)和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔,。
暫無數(shù)據(jù),!