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高分辨成像的業(yè)界標(biāo)桿
應(yīng)用靈活性,,高水平論文的發(fā)表
· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。
· 提供多模塊功能的MultiMode
· 發(fā)表論文AFM
· 峰值力模式實(shí)現(xiàn)
MultiMode是受歡迎的掃描探針顯微鏡,,得到客戶的高度,,迄今為止數(shù)以萬(wàn)計(jì)的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經(jīng)在成功安裝使用,。其世屆的分辨率,,儀器性能,,以及得到充分驗(yàn)證的數(shù)據(jù),奠定了其在AFM領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)地位,。
定量成像模式
· Bruker專li的新型成像模式PeakForce QNM,,可以對(duì)材料納米尺度的力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量檢測(cè),在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像,。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術(shù)不同的是,使用PeakforceQNM模式可獲得,、定量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),。
· PeakForce TUNA模塊,能夠定量測(cè)量樣品的導(dǎo)電特性,,這是傳統(tǒng)的導(dǎo)電模式所不能實(shí)現(xiàn)的,。
· 推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上實(shí)現(xiàn)快速掃描模式,。與傳統(tǒng)的AFM相比,,在其速度高6倍時(shí)仍不損失圖像分辨率,,獲得分辨的AFM圖像。掃描速度,,可比傳統(tǒng)的AFM高20倍,。
具有高的分辨率和測(cè)試性能
· 迄今為止,,利用MultiMode系列原子力顯微鏡,已發(fā)表大量高水平論文,,幫助科學(xué)家們解決了
· 諸多重大前沿科研問(wèn)題,。MultiMode8采用結(jié)構(gòu)緊湊的剛性設(shè)計(jì),,即使樣品的測(cè)試難度大,測(cè)試條件極為苛刻,,也能實(shí)現(xiàn)低系統(tǒng)噪音,,獲得分辨率的圖像。
· NanoScope®V控制器提供業(yè)界系統(tǒng)噪音和帶寬,,大大高了數(shù)據(jù)分析能力,,適用于更多的研究領(lǐng)域。
· Bruker的Peak Force Tapping® 技術(shù),,控制針尖與樣品的作用力,,可遠(yuǎn)低于TappingMode所需要的力。
適用于各研究領(lǐng)域
· 大氣或者溶液環(huán)境中,,MultiMode8都能夠完成樣品檢測(cè),,以其分辨率和功能,被廣泛應(yīng)用于物理,、化學(xué),、材料、電子以及生命科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域,。
· 在MultiMode8上可選配溫度調(diào)節(jié)和環(huán)境控制附件,。加熱到250°C,冷卻至-35°C,,或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中,,都可以實(shí)現(xiàn)敏感樣品的檢測(cè)和成像。
· MultiMode8基本操作模式的基礎(chǔ)上選配不同功能的附件,,可在高分辨成像的同時(shí),,獲得樣品的力學(xué)、電學(xué),、磁學(xué),、熱力學(xué)等各項(xiàng)性能指標(biāo)
暫無(wú)數(shù)據(jù)!