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M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線熒光成像的新紀(jì)元
M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,。
作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品,,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺,。
更輕、更快,、更深
M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實現(xiàn)對輕元素碳的檢測,,高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,BRUKER孔徑管理系統(tǒng)(AMS)可以獲取大景深,,對表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢,。
超輕元素檢測
M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質(zhì)元素碳的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個優(yōu)化的Rh靶X射線光管,。
與普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀不同,,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內(nèi)元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數(shù)小于11的元素(Z<11),,例如氟(F),、氧(O)、氮(N)和碳(C),。
隨著功能性的增強(qiáng),,M4 TORNADOPLUS應(yīng)用也正在開發(fā)和拓展中,,例如地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué),、生物學(xué),、聚合物研究或半導(dǎo)體行業(yè)等方向。
應(yīng)用實例-螢石和方解石的區(qū)分
螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物,。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟(F),,氧(O),碳(C),;由于普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,,無法區(qū)分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線,。
利用超輕元素探測器,,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),,從而鑒別這兩種礦物。
圖:鑒別螢石與方解石
左:方解石(紅)和螢石(藍(lán))的元素分布圖,;圖像尺寸:20×12mm2,;掃描分辨率:800×460pixels
右:螢石(藍(lán))和方解石(紅)的輕質(zhì)元素光譜圖。
應(yīng)用實例-電路板
由于AMS的場深度深,,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細(xì)節(jié),。此外,由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,,光束能量依賴性變得不那么明顯,。
圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖
左圖: 標(biāo)準(zhǔn)多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦在電路板上,元件的高點失焦,,顯得模糊,。
右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深,組件聚焦在更大的景深范圍內(nèi),。
暫無數(shù)據(jù),!