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M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線熒光成像的新紀(jì)元

M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,。

作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能,，例如創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

更輕,、更快,、更深

M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器（SDD）實現(xiàn)對輕元素碳的檢測，高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,，BRUKER孔徑管理系統(tǒng)（AMS）可以獲取大景深,，對表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢。

超輕元素檢測

M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質(zhì)元素碳的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,，具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個優(yōu)化的Rh靶X射線光管,。

與普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀不同,，M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內(nèi)元素靈敏度的前提下，還可以檢測原子數(shù)小于11的元素（Z＜11）,，例如氟（F）,、氧（O）、氮（N）和碳（C）,。

隨著功能性的增強,，M4 TORNADOPLUS應(yīng)用也正在開發(fā)和拓展中，例如地質(zhì)學(xué),、礦物學(xué),、生物學(xué)、聚合物研究或半導(dǎo)體行業(yè)等方向,。

應(yīng)用實例-螢石和方解石的區(qū)分

螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物,。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟（F），氧（O）,，碳（C）,；由于普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z＜11(Na）的元素，無法區(qū)分這兩種礦物,，所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線,。

利用超輕元素探測器，M4 TORNADOPLUS可以檢測氟（F）,、氧(O)和碳(C),，從而鑒別這兩種礦物。

圖：鑒別螢石與方解石

左：方解石（紅）和螢石（藍(lán)）的元素分布圖,；圖像尺寸：20×12mm2；掃描分辨率：800×460pixels

右：螢石（藍(lán)）和方解石（紅）的輕質(zhì)元素光譜圖,。

應(yīng)用實例-電路板

由于AMS的場深度深,，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細(xì)節(jié)。此外,，由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,，光束能量依賴性變得不那么明顯。

圖：具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

左圖: 標(biāo)準(zhǔn)多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦在電路板上,，元件的高點失焦,，顯得模糊。

右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深,，組件聚焦在更大的景深范圍內(nèi),。