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M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像的新紀(jì)元
M4 TORNADOPLUS能夠檢測(cè)出C(6)-Am(95)間元素的微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像光譜儀,。
作為微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產(chǎn)品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,,例如創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺(tái)。
更輕,、更快,、更深
M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測(cè)器(SDD)實(shí)現(xiàn)對(duì)輕元素碳的檢測(cè),高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,,BRUKER孔徑管理系統(tǒng)(AMS)可以獲取大景深,,對(duì)表面不平整樣品分析具有優(yōu)勢(shì)。
超輕元素檢測(cè)
M4 TORNADOPLUS能夠檢測(cè)分析輕質(zhì)元素碳的微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像光譜儀,,具備兩個(gè)具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測(cè)器和一個(gè)優(yōu)化的Rh靶X射線(xiàn)光管,。
與普通微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內(nèi)元素靈敏度的前提下,,還可以檢測(cè)原子數(shù)小于11的元素(Z<11),,例如氟(F)、氧(O),、氮(N)和碳(C),。
隨著功能性的增強(qiáng),M4 TORNADOPLUS應(yīng)用也正在開(kāi)發(fā)和拓展中,,例如地質(zhì)學(xué),、礦物學(xué)、生物學(xué),、聚合物研究或半導(dǎo)體行業(yè)等方向,。
應(yīng)用實(shí)例-螢石和方解石的區(qū)分
螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物,。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟(F),氧(O),,碳(C),;由于普通微區(qū)X射線(xiàn)熒光成像光譜儀檢測(cè)不到Z<11(Na)的元素,無(wú)法區(qū)分這兩種礦物,,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會(huì)顯示Ca元素譜線(xiàn),。
利用超輕元素探測(cè)器,M4 TORNADOPLUS可以檢測(cè)氟(F),、氧(O)和碳(C),,從而鑒別這兩種礦物。
圖:鑒別螢石與方解石
左:方解石(紅)和螢石(藍(lán))的元素分布圖,;圖像尺寸:20×12mm2,;掃描分辨率:800×460pixels
右:螢石(藍(lán))和方解石(紅)的輕質(zhì)元素光譜圖。
應(yīng)用實(shí)例-電路板
由于A(yíng)MS的場(chǎng)深度深,,如圖所示電路板的X射線(xiàn)圖像獲得更多的細(xì)節(jié),。此外,由于激發(fā)X射線(xiàn)光子的入口和出口角度減小,,光束能量依賴(lài)性變得不那么明顯,。
圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖
左圖: 標(biāo)準(zhǔn)多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦在電路板上,元件的高點(diǎn)失焦,,顯得模糊,。
右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深,組件聚焦在更大的景深范圍內(nèi),。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!