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多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa
多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLa

參考價格

面議

型號

nanoSAQLa

品牌

大塚電子

產地

江蘇

樣本

暫無
大塚電子(蘇州)有限公司

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生產商

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特點

只需一臺,輕松實現5檢體連續(xù)測量
低濃度到高濃度都可對應
高速測量,,標準時間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內置非浸泡型的cell block,,無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能

測量范圍(理論值)

粒徑 0.6nm~10μm
濃度范圍 0.00001~40%
溫度范圍 0~90℃*

仕樣


型號多檢體NANO粒徑測量系統(tǒng)
測量原理動態(tài)光散射法
光源高出力半導體激光*1
檢出器高感光度APD
連續(xù)測量5檢體
測量范圍0.6nm ~ 10μm
對應濃度0.00001 ~ 40% *2
溫度0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
規(guī)格遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸W240 X D480 X H375 mm
重量約18 kg
軟件平均粒徑解析 (累積法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布疊寫
逆相關函數?殘差plot
粒徑monitor
粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計算功能


*1 根據激光安全基準 (JIS C6802)級別區(qū)分,本儀器的安全級別為1級,。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%,、牛黃膽酸:~40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況,。
  一次性cell或連續(xù)測量時,, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)


測量范例

01.png


a02.jpg


03.png





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