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MCPD系列品牌
大塚電子產(chǎn)地
江蘇樣本
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分光光譜儀種類
MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜,、光阻膜)光阻剝離液厚度,、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜,、接著劑,、亞克力樹脂、光碟片膜層,、薄膜磁頭)樹脂膜(PET,、PP、PE,、PC,、Nylon)、機(jī)能性薄膜,、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜,、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度,、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜,、蒸鍍膜、接著劑,、亞克力樹脂,、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP,、PE,、PC、Nylon),、機(jī)能性薄膜,、包裝膜。
影印機(jī)感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜,、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度,、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜,、蒸鍍膜、接著劑,、亞克力樹脂,、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET,、PP,、PE、PC,、Nylon),、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點(diǎn)膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜,、氮化膜,、光阻膜)
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜(Coating膜,、蒸鍍膜,、接著劑、亞克力樹脂,、光碟片膜層,、薄膜磁頭)
樹脂膜(PET、PP,、PE,、PC、Nylon),、機(jī)能能性薄膜,、包裝膜
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顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚,、折射率n,、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度,、高性價比的分光膜厚儀,。適用于各種可透光膜層的測試,并有獨(dú)家專利可針對透明
Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機(jī)型,,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(ZetaPotential,,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能
大塚電子利用光技術(shù),,開發(fā)出各種分析測量裝置,,給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù),、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主,,定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會)。