測量范圍:
0.5-3000μm誤差率:
≤1%分辨率:
0.1μm重現性:
1%儀器原理:
圖像分析分散方式:
濕法分散測量時間:
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產品介紹
JX-2000B圖像分析系統(tǒng)由光學顯微鏡,、數字CCD攝像頭,、圖像處理與分析軟件、電腦,、打印機等部分組成,。因為粉體形態(tài)各異,在借助激光粒度儀測試的同時,,選用顆粒圖像分析儀,,可以更準確的直觀粒度形貌,控制好產品質量,。
應用領域
1,、金剛石,、碳化硅、硅灰石,、石英粉,、硫酸鋇、石墨,、鈷酸鋰,、碳化硼、白剛玉,、氧化鈰云母粉,、碳粉,、金屬粉等各種礦粉:
2,、玻珠、水泥,、藥品,、食品、顏料,、粉塵,、農藥、催化劑等各種粉體或漿料,。
3,、也可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
參數指標
序號 | 項目 | 指標 |
1 | 分析項目 | 粒度分布,、長徑比分布,、圓形度分布等 |
2 | 測試范圍 | 0.5~3000μm |
3 | 放大倍數 | ≤4000倍 |
4 | 光學放大倍數 | 1600倍 |
5 | 分辨率 | ≥0.1μm |
6 | 顯微鏡 | 透反射顯微鏡(可選配國產/金相/進口) |
7 | 數字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 |
8 | 目鏡 | 10X 、16X |
9 | 物鏡 | 4X ,、10X ,、20X、 40X,、100X |
10 | 標尺刻度 | 10μm |
11 | 軟件運行環(huán)境 | Windows7 32位 |
12 | 接口方式 | USB接口高速穩(wěn)定傳輸 |
儀器優(yōu)點
1. 軟件分析與處理功能
1.1 通過圖像分析軟件可直接觀察顯微鏡下的顆粒形貌,,并進行圖片采集。圖片可保存為JPG或BMP格式,;軟件采集圖像后可調整圖像高度,、寬度、分辨率等,。根據不同倍數物鏡采集的圖像可設置相應標尺或網格,,直觀顆粒大小。
1.2 自由切換粒徑單位,,標尺支持多種單位選擇,,可在微米和毫米,、厘米、英寸之間自由切換,,方便小顆粒和大顆粒的進一步處理,。
1.3 圖像分析處理
1.3.1 色調處理:灰度化、色調調整,、亮度,、對比度調整;
1.3.2 圖像矯正:水平鏡像,、垂直鏡像,、90度(逆時針)、90度(順時針),、旋轉,、放大、縮小,、任意比例縮放等,;
1.3.3 測量單位:微米、毫米,、厘米,、英吋(任選);
1.3.4 圖像增強:對比度均衡,、膨脹,、腐蝕等;
1.3.5 圖像處理:圖像銳化,,邊緣平滑,,二值化,面積濾波,、邊界濾波,,分析目標擦除、孔洞填充,,手工擦除,,手工連接,粒子屬性查看等功能,;
1.4 可以對多幅圖形進行批量處理,,增加顆粒數量,提高樣品的代表性,,使處理結果更加準確,、真實、可靠。
1.5 軟件功能強大,,可根據行業(yè)特殊要求,,設計磨料、硅灰石等專用軟件,。
2.報告輸出
2.1 通過對圖像進行處理后,,電腦自動統(tǒng)計出顆粒個數、面積,、周長,、體積、直徑,、圓形度分布,、長徑比分布、粒度分布數據,,以及D10,、D50、D90,、D97,、平均粒徑,、表面積等特征值,。
2.2 可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中,樣品名稱,、測試單位,、分散介質等多項信息輸入到報告表頭,可選多種報告格式,。
儀器分二種型號,,技術原理、參數都相同,,JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡,,JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡,后者還可用于陶瓷,、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析,。
近日,國家知識產權局信息顯示,,成都精新粉體測試設備有限公司取得一項名為“一種激光粒度儀的進樣裝置”的專利,,授權公告號CN222420244U,申請日期為2023年12月。 專利摘要顯示,,本申
近期,,中國粉體網開啟第九屆“粉體行業(yè)獎項年度評選”活動?!胺垠w行業(yè)獎項年度評選”是由中國粉體網聯合北京粉體技術協會于2013年共同發(fā)起,,是粉體行業(yè)最具權威性的獎項之一。為了助推行業(yè)邁向更高臺階,,202
振實密度是經過振動后的密度。具體來講,,它是粉體質量的重要指標,,振實密度測量,是指將一定量的粉體裝入容器中,,在一定條件下規(guī)律振動,,盡量壓縮顆粒之間的空隙,最終達到顆粒之間的空隙無法在縮小的程度,。當容器中
??崩潰角是指在測量休止角之后,,給堆積的粉體以一定的外力沖擊,導致堆積粉體的自由表面產生崩塌現象,。崩塌后,,堆積粉體的表面與水平面之間的夾角被稱為崩潰角。這個角度的大小反映了粉體的物理性質和受力情況,,一
安息角:在靜平衡狀態(tài)下, 堆積粉體的自由表面與水平面之間的夾角叫做安息角,。它是通過特定方式使粉體自然下落到特定平臺上形成錐體后測量的,。安息角大小直接反映粉體的流動性,安息角越小粉體的流動性越好,。崩潰角
測量粉體的比表面積通常使用比表面積分析儀(也稱為比表面積及孔徑分析儀,、比表面積測試儀、比表面積測量儀),。其中,,氣體吸附法(BET法)是一種常用的測量方法。以下是使用氣體吸附法測量粉體比表面積的步驟:樣