
上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒

已認證
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Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,,可以測試:粒徑,、Zeta電位、滴定,、電導等,。
此儀器容易使用、測量精確,。對于高達60%(體積)濃度的樣品,,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠,、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量,。
典型應用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,,化學機械研磨,,煤漿,涂料,,化妝品,,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),,乳膠,,微乳,混合分散體系,,納米粉,,無水體系,油漆成像材料,。
主要特點:
1)能分析多種分散物的混合體,;
2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點,;
3)可適用于高導電(highly conducting)體系,;
4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;
5)可精確測量無水體系,;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,,無需先測量粒度即可進行電位測量;
7)樣品的高濃度可達60%(體積比),,被測樣品無需稀釋,,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
8)具有自動電位滴定功能,;
優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋,;
2)排除雜質及對樣品污染的干擾;
3)不需定標;
4)能分析多種分散物的混合體,;
5)高精度,;
6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um
Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢:
1)無需定標;
2)能測更寬的粒徑范圍,;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系,;
7)可適用于高導電(highly conducting)體系,;
優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達60%,;
2)可排除雜質及對樣品污染的干擾,;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;
5)electrosmotic flow不影響測量,;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可精確測量無水體系,;
技術參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量,、Zeta電位,、等電點IEP、E5A,、電導率,、PH、溫度,、聲衰減,;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),,高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數(shù));
6)樣品體積:30-230ml,;
7)PH范圍:0~14;
8)電導率范圍:0~10 s/m
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