上海胤煌科技有限公司-傘棚燈、不溶性微粒
已認(rèn)證
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Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,,可以測試:粒徑、Zeta電位,、滴定,、電導(dǎo)等,。
此儀器容易使用、測量精確,。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠,、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量,。
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,,涂料,化妝品,,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),,乳膠,微乳,,混合分散體系,,納米粉,,無水體系,油漆成像材料,。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,,精確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾,;
5)可精確測量無水體系,;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量,;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋,;
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo),;
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度,;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需定標(biāo);
2)能測更寬的粒徑范圍,;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%,;
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv),;
4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;
5)electrosmotic flow不影響測量,;
6)對流(convection)不影響測量,;
7)可精確測量無水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;
2)可測量參數(shù):粒度分布,、固含量,、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP,、E5A、電導(dǎo)率、PH,、溫度、聲衰減,;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,,低表面電荷(可低至0. 1mv),,高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù)),;
6)樣品體積:30-230ml,;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
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