誤差率：
N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
N/A測量時間：
3-5min測量范圍：
0.3nm-15um看了納米粒度儀智能進(jìn)樣助手的用戶又看了
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Zetasizer Advance系列的新附件——智能進(jìn)樣助手,，將顯著提高您的系統(tǒng)利用率。它幫助實驗人員告別枯燥重復(fù)的手動換樣操作,，更加高效地獲得和Zetasizer Advance系列同樣出色的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
Zetasizer智能進(jìn)樣助手的獨特之處：
極大程度減少更換樣品時所需的時間,，提高系統(tǒng)利用率
在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下更高效的分析樣品
兼容您現(xiàn)有的測試方法,，簡化方法轉(zhuǎn)移過程
在一個樣品盤商，可以應(yīng)用不同的測試方法,，如粒徑,、電位、MADLS,、濃度等
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智能進(jìn)樣助手可實現(xiàn)：
無需守在儀器旁操作,，即可獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)
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暫無數(shù)據(jù),！
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代,，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇,。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜,、分析時間長,、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,，除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動，我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動：四場分別針對激光粒度儀,、納米粒度儀,、X射線衍射儀,、X射線熒光光譜儀用
近日,，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單,，并成功在美國High Desert A
本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測量時,，樣品中產(chǎn)生的氣泡會顯著影響測量結(jié)果,。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科專利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用，來保障預(yù)制
本文摘要納米氣泡的粒度表征,，受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點,，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測試,，信號弱，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差,。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實現(xiàn)實時,、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對硅晶片的微觀形貌有直接影響，進(jìn)而會影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性,；此外,，漿料的穩(wěn)定性也會影響晶片拋光過程，所以磨料的顆粒表征非常重要,，本文介紹了利用動態(tài)光散射技
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