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掃描電子顯微鏡
Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用
功能*為豐富的高性能 SEM
Apreo 性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生****的高分辨率和信號選擇,。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒,、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺,，并且不會降低磁性樣品性能,。
Apreo 受益于獨特的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供**的材料對比度,，即使在傾斜,、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾,?？蛇x低真空模式現(xiàn)在的**樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求*嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。
通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡,、高級探測和靈活樣品處理）,，Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題,。
體驗 Apreo SEM 帶來的優(yōu)勢
·獨有的復(fù)合末級透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時或進(jìn)行地形測量時）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm）,，而無需進(jìn)行電子束減速。
·作用極大的背散射探測 - 始終保證良好的材料對比度,，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時也不例外,。
·無比靈活的探測器 - 可將各個探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對比度或信號強(qiáng)度,。
·各種各樣的電荷緩解策略,，包括樣品倉壓力**為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像,。
·**的分析平臺提供高電子束電流,，而且光斑很小。樣品倉支持三個 EDS 探測器,、共面的 EDS 和EBSD 以及針對分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng),。
·樣品處理和導(dǎo)航極其簡單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+,。
·通過高級用戶指導(dǎo),、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專家級結(jié)果。
Apreo FAQ
在切換到低真空模式之前,，是否需要插入 GAD 探測器,？
低真空模式可在沒有安裝任何配件的情況下使用?？蛇_(dá)到的壓力范圍將達(dá)到 50 Pa,。使用壓力限制孔 (PLA)，如氣體分析探測器 (GAD),，結(jié)果將進(jìn)一步改善,。此外，借助 GAD,，壓力**可以達(dá)到 500 Pa,。
浸沒透鏡的“選配”是什么意思？
配置系統(tǒng)時不需要浸沒透鏡,，如果安裝,，也不需要使用。每個 Apreo 可在 1 kV 下實現(xiàn) 1.3 nm 分辨率,。通過安裝和激發(fā)浸沒透鏡,，可在 1 kV 下提高到 1.0 nm,。此外，還提供了額外的復(fù)合透鏡過濾功能,。
靜電鏡筒關(guān)閉時,，您可以使用浸沒嗎？
原則上來說沒有,。加速管和浸沒透鏡均打開時可以獲得**效果,。沒有僅用于浸沒的明確使用情況。默認(rèn)情況下,，Apreo 在操作時開啟加速管,，在必要時開啟浸沒。
鏡筒內(nèi)探測器（T1,、T2,、T3）是否能在 TV 速率下工作？
是的,，可以工作,。
您說在傾斜樣品上不可能實現(xiàn)電子束減速。為什么,？
電子束減速 (BD) 在樣品和極片之間形成了一個靜電場,。使用傾斜的樣品，場線將成一定角度,，這會在圖像中導(dǎo)致歪曲,。這也發(fā)生在具有較大地形特征的樣品上。因此,，即使 BD 是一個非常有用的功能,，并且是 Apreo 的標(biāo)配功能，它也不能在所有情況下使用,。因此,，Apreo 不依靠 BD 來實現(xiàn)其分辨率。對于浸沒系統(tǒng),，在不使用 BD 時,，在 1 kV 下的分辨率為 1.0 nm，在不使用浸沒透鏡時,，在 1 kV 下的分辨率為 1.3 nm。
暫無數(shù)據(jù),！
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